[发明专利]一种基于螺旋变换的光子轨道角动量模式测量方法及系统有效

专利信息
申请号: 201810369216.3 申请日: 2018-04-23
公开(公告)号: CN108923880B 公开(公告)日: 2019-06-07
发明(设计)人: 陈钰杰;闻远辉;扬尼斯·克里姆斯;余思远 申请(专利权)人: 中山大学
主分类号: H04J14/04 分类号: H04J14/04;G01J1/42
代理公司: 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 代理人: 林丽明
地址: 510275 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 光子轨道 角动量 输出平面 输入平面 测量方法及系统 螺旋变换 平面波 倾斜波 相位板 凸透镜 光斑 高分辨率 解调效率 空间位置 路径映射 模式变换 入射光场 相邻模式 补偿光 焦平面 螺旋线 串扰 解调 探测 测量 聚焦 传播
【权利要求书】:

1.一种基于螺旋变换的光子轨道角动量模式测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1:将携带光子轨道角动量的待测的入射涡旋光场垂直入射至(x,y)平面的相位板1,且待测光场的中心与相位板的中心对准,其中入射涡旋光场的波前为角向螺旋相位分布为exp(ilθ);所述的l为拓扑电荷数;所述的θ为方位角;所述的i是虚数单位;

S2:在(x,y)平面的相位板1上加载预先设定的第一相位调制Q(x,y),使入射涡旋光场经过相位板1调制后传播到(u,v)平面的相位板2;

S3:在(u,v)平面的相位板2上加载预先设定的第二相位调制P(u,v),使得入射涡旋光场的相位分布从角向螺旋相位exp(ilθ)变换为横向线性相位exp(ilv/β);所述的β为尺度缩放因子;

S4:将通过第二相位调制P(u,v)后的入射涡旋光场通过凸透镜,由于变换后的横向线性相位,使得入射涡旋光场被聚焦到凸透镜后焦面上的横向位置m,所述的凸透镜的前焦面和后焦面的光场满足傅里叶变换的关系;所述的m通过下式进行表达:

式中,所述的λ是光波的波长,所述的f是凸透镜的焦距;

S5:通过位于透镜后焦面上光强探测模块,记录光强分布位置,确定待测光场的光子轨道角动量模式的拓扑电荷数l。

2.根据权利要求1所述的光子轨道角动量模式测量方法,其特征在于,所述的S2中的(x,y)平面上的光场沿着对数螺旋线的路径分解并映射到(u,v)平面上的直线,相应的坐标映射关系通过下式进行表达:

式中,所述的a和r0为对数螺旋变换的相关参数,即r0表示映射到(u,v)平面的原点对应(x,y)平面的位置信息;a表示对数螺旋线的变化快慢程度,当a=0时,表示对数螺旋变换退化为对数极坐标变换;所述的(r,θ)是(x,y)平面的螺旋极坐标。

3.根据权利要求2所述的光子轨道角动量模式测量方法,其特征在于,所述的(r,θ)通过下式进行表达:

r=(x2+y2)1/2,θ=θ0+2mπ,

式中,所述的表示取整数部分,θ的取值范围是(-∞,+∞)。

4.根据权利要求1至3中任一权利要求所述的光子轨道角动量模式测量方法,其特征在于,所述的第一相位调制Q(x,y)通过下式进行表达:

式中,所述的k为入射涡旋光场在相位板1与相位板2之间的传播的波数,所述的d为相位板1与相位板2之间的距离;所述的a和r0为对数螺旋变换的相关参数,即r0表示映射到(u,v)平面的原点对应(x,y)平面的位置信息;a表示对数螺旋线的变化快慢程度,当a=0时,表示对数螺旋变换退化为对数极坐标变换。

5.根据权利要求4所述的光子轨道角动量模式测量方法,其特征在于,所述的第二相位调制P(u,v)通过下式进行表达:

6.根据权利要求1至3中任一权利要求所述的光子轨道角动量模式测量方法,其特征在于,所述的第二相位调制P(u,v)通过下式进行表达:

式中,所述的k为入射涡旋光场在相位板1与相位板2之间的传播的波数,所述的d为相位板1与相位板2之间的距离;所述的a和r0为对数螺旋变换的相关参数,即r0表示映射到(u,v)平面的原点对应(x,y)平面的位置信息;a表示对数螺旋线的变化快慢程度,当a=0时,表示对数螺旋变换退化为对数极坐标变换。

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