[发明专利]储层物性的修正方法和装置

说明书

本发明提供一种储层物性的修正方法和装置，该方法包括：根据低压胶体灌注的储层的全直径岩心的压汞资料，获取全直径岩心的显孔隙度‑渗透率函数模型；根据全直径岩心的铸体薄片资料，通过图像分析方法，获取全直径岩心的显缝面孔率和假缝面孔率，显缝面孔率用于指示铸体薄片图像中所有缝隙的比率，假缝面孔率用于指示铸体薄片图像中假缝的比率；根据显缝面孔率和假缝面孔率，获取全直径岩心的真孔隙度；根据真孔隙度和全直径岩心的显孔隙度‑渗透率函数模型，获取全直径岩心的修正渗透率。本发明提供的储层物性的修正方法，能够获取储层真实的孔隙度和渗透率，为油气井的勘探生产提供了基础资料。

技术领域

本发明涉及油气开发技术领域，尤其涉及一种储层物性的修正方法和装置。

背景技术

储层的孔隙度、渗透率是评价储层品质的重要参数，其准确性直接影响油气勘探开发方案的部署。

现有技术中，通常从地下储层钻取岩心制作柱塞样品，以该样品开展实验分析储层的孔隙度和渗透率。而对于浊沸石胶结的砂砾岩储层来说，其储层胶结疏松，在从地下储层钻取岩心时，由于胶结物浊沸石与砂砾岩颗粒的减压膨胀率使得岩心产生破裂；且在制作柱塞样品的过程中打磨切割等工艺产生的机械力造成砂砾岩颗粒松动脱落，形成裂缝。

由此产生的裂缝并非储层岩心真实的孔隙，进而造成以此柱塞样品获取的孔隙度、渗透率远远大于实际数值，无法反映储层的真实孔隙度、渗透率。

发明内容

本发明提供一种储层物性的修正方法和装置，能够获取储层真实的孔隙度和渗透率，为油气井的勘探生产提供了基础资料。

本发明的第一方面提供一种储层物性的修正方法，包括：

根据低压胶体灌注的储层的全直径岩心的压汞资料，获取全直径岩心的显孔隙度-渗透率函数模型；

根据所述全直径岩心的铸体薄片资料，通过图像分析方法，获取所述全直径岩心的显缝面孔率和假缝面孔率，所述显缝面孔率用于指示铸体薄片图像中所有缝隙的比率，所述假缝面孔率用于指示所述铸体薄片图像中假缝的比率；

根据所述显缝面孔率和假缝面孔率，获取所述全直径岩心的真孔隙度；

根据所述真孔隙度和所述全直径岩心的显孔隙度-渗透率函数模型，获取所述全直径岩心的修正渗透率。

可选的，所述根据所述显缝面孔率和假缝面孔率，获取所述全直径岩心的真孔隙度，包括：

根据所述全直径岩心的压汞资料，获取所述全直径岩心的显孔隙度；

根据二维面孔率与三维孔隙度的转换关系、所述显缝面孔率和所述假缝面孔率，获取所述全直径岩心的显缝体孔率和假缝体孔率；

根据所述全直径岩心的显孔隙度、所述显缝体孔率和假缝体孔率，获取所述全直径岩心的真孔隙度。

可选的，所述根据所述全直径岩心的显孔隙度、所述显缝体孔率和假缝体孔率，获取所述全直径岩心的真孔隙度，包括：

根据所述全直径岩心的显孔隙度和显缝体孔率的平均值，获取所述全直径岩心的平均孔隙度；

根据所述平均孔隙度和所述假缝体孔率的差值，获取所述全直径岩心的真孔隙度。

可选的，所述根据所述显缝面孔率和假缝面孔率，获取所述全直径岩心的真孔隙度，包括：

根据所述显缝面孔率和假缝面孔率的差值，获取真缝面孔率；

根据二维面孔率与三维孔隙度的转换关系、所述真缝面孔率，获取所述全直径岩心的真孔隙度。

可选的，所述根据所述全直径岩心的铸体薄片资料，通过图像分析方法，获取所述全直径岩心的显缝面孔率和假缝面孔率，包括：