[发明专利]储层物性的修正方法和装置

权利要求书

1.一种储层物性的修正方法，其特征在于，包括：

根据低压胶体灌注的储层的全直径岩心的压汞资料，获取全直径岩心的显孔隙度-渗透率函数模型；

根据所述全直径岩心的铸体薄片资料，通过图像分析方法，获取所述全直径岩心的显缝面孔率和假缝面孔率，所述显缝面孔率用于指示铸体薄片图像中所有缝隙的比率，所述假缝面孔率用于指示所述铸体薄片图像中假缝的比率；

根据所述显缝面孔率和假缝面孔率，获取所述全直径岩心的真孔隙度；

根据所述真孔隙度和所述全直径岩心的显孔隙度-渗透率函数模型，获取所述全直径岩心的修正渗透率。

2.根据权利要求1所述的修正方法，其特征在于，所述根据所述显缝面孔率和假缝面孔率，获取所述全直径岩心的真孔隙度，包括：

根据所述全直径岩心的压汞资料，获取所述全直径岩心的显孔隙度；

根据二维面孔率与三维孔隙度的转换关系、所述显缝面孔率和所述假缝面孔率，获取所述全直径岩心的显缝体孔率和假缝体孔率；

根据所述全直径岩心的显孔隙度、所述显缝体孔率和假缝体孔率，获取所述全直径岩心的真孔隙度。

3.根据权利要求2所述的修正方法，其特征在于，所述根据所述全直径岩心的显孔隙度、所述显缝体孔率和假缝体孔率，获取所述全直径岩心的真孔隙度，包括：

根据所述全直径岩心的显孔隙度和显缝体孔率的平均值，获取所述全直径岩心的平均孔隙度；

根据所述平均孔隙度和所述假缝体孔率的差值，获取所述全直径岩心的真孔隙度。

4.根据权利要求1所述的修正方法，其特征在于，所述根据所述显缝面孔率和假缝面孔率，获取所述全直径岩心的真孔隙度，包括：

根据所述显缝面孔率和假缝面孔率的差值，获取真缝面孔率；

根据二维面孔率与三维孔隙度的转换关系、所述真缝面孔率，获取所述全直径岩心的真孔隙度。

5.根据权利要求1-4任一项所述的修正方法，其特征在于，所述根据所述全直径岩心的铸体薄片资料，通过图像分析方法，获取所述全直径岩心的显缝面孔率和假缝面孔率，包括：

根据所述铸体薄片中缝隙和假缝的特征与识别标志，获取所述显缝和所述假缝的面积；

根据所述显缝的面积和所述铸体薄片的面积的比值，获取所述全直径岩心的显缝面孔率；

根据所述假缝的面积和所述铸体薄片的面积的比值，获取所述全直径岩心的假缝面孔率。

6.根据权利要求1所述的修正方法，其特征在于，所述根据低压胶体灌注的储层全直径岩心的压汞资料，获取全直径岩心的显孔隙度-渗透率函数模型，包括：

根据所述全直径岩心的压汞资料，获取不同大小的孔隙对渗透率的贡献值；

根据所述贡献值，确定所述显孔隙和微孔隙的临界值；

根据所述临界值和所述压汞资料中的多个所述全直径岩心的渗透率，获取所述全直径岩心的显孔隙度-渗透率函数模型。

7.根据权利要求6所述的修正方法，其特征在于，根据所述贡献值，确定所述显孔隙和微孔隙的临界值，包括：

将对渗透率的贡献值≥95％，孔隙大小≥0.293um的孔隙值确定为所述显孔隙和微孔隙的临界值。

8.一种储层物性的修正装置，其特征在于，包括：

显孔隙度-渗透率函数模型获取模块，用于根据低压胶体灌注的储层的全直径岩心的压汞资料，获取全直径岩心的显孔隙度-渗透率函数模型；

面孔率获取模块，用于根据所述全直径岩心的铸体薄片资料，通过图像分析方法，获取所述全直径岩心的显缝面孔率和假缝面孔率，所述显缝面孔率用于指示铸体薄片图像中所有缝隙的比率，所述假缝面孔率用于指示所述铸体薄片图像中假缝的比率；

真孔隙度获取模块，用于根据所述显缝面孔率和假缝面孔率，获取所述全直径岩心的真孔隙度；

修正渗透率获取模块，用于根据所述真孔隙度和所述全直径岩心的显孔隙度-渗透率函数模型，获取所述全直径岩心的修正渗透率。