[发明专利]一种软腭形态及发育的检测方法

说明书

本发明属于医学软腭检测领域，尤其涉及一种软腭形态及发育的检测方法，其特征包括以下步骤：准备设备、头影测量侧位拍摄、头影测量发音侧位拍摄和在PACS系统中对比分析两次拍摄图像，检测软腭形态及发音时软腭的上抬高度及腭咽闭合情况等步骤。本发明通过两次头影测量侧位曝光，对比分析后不仅可以将被检查者的软腭形态及发育状况显示出来，在一定程度上还可以为腭裂修复中软腭形态的重建和腭咽闭合的研究提供参考。

技术领域

本发明属于医学软腭检测领域，尤其涉及一种软腭形态及发育的检测方法。

背景技术

自伦琴发现X射线以来，医疗诊断方式已发生了翻天覆地的变化，特别是计算机技术与现代医学影像技术的紧密结合及其技术在医疗领域的广泛应用，使得医学图像信息分析与处理手段不断改进，例如临床上常用的PACS系统，将医学图像与计算机系统紧密结合，不仅使其成像清晰，还可以动态观察图形图像，将拍摄数据长期完整保存，医务人员诊疗水平得到大大提高，从而使得现代医学已越来越离不开医学影像数据，医学影像在精确化的临床诊断、教学和科研等方面正发挥着极其重要的作用。

头影测量侧位片是根据拍摄的头颅定位X线片，由牙、颌骨及颅面解剖标志点描绘出一定的线、角，并进行测量分析测量，从而了解牙及颅颌面软硬组织的结构和关系。头影测量技术是Broabent于1931年首先提出的一项X线拍摄技术，1958年丹麦皇家牙学院率先提出了电子计算机X线头影测量的方法，这一技术极大的提高了拍摄头影测量侧位片的效率及准确性。该技术在正畸和正颌等领域得到了广泛的运用。

软腭是一个肌性组织，在口腔的发音及吞咽功能中具有重要作用, 在临床中对其形态进行研究对腭裂患者的治疗具有重要临床意义。但由于软腭处于特殊的解剖位置, 目前通过二维平片的方法研究软腭形态的研究较少, 其他研究主要采用三维的方法对其进行研究，而且主要是在静态下研究软腭的形态，这些研究在一定程度上无法将软腭功能状态下的形态显示出来。在临床工作中，通过头影测量侧位片可以观察到软腭的后壁的轮廓，但是无法清晰观察软腭的完整形态，特别是腭咽闭合不全的患者中，其软腭的形态及功能无法通过一张二维的头影测量侧位片进行观察和分析。

发明内容

为了解决以上述技术问题，本发明提供一种软腭形态及发育的检测方法，通过对比头影测量侧位片与头影测量发音侧位片来评估，在二维图像的基础上，对比分析软腭，不仅可以将被检查者的软腭形态及发育状况测定出，还可以测定软腭在功能状态下的形态，从而对比分析的结果为腭裂修复中软腭形态的重建和腭咽闭合的研究提供参考，提高以后术中准确及愈合率。方法简单，易操作。

解决以上技术问题的本发明中的一种软腭形态及发育的检测方法，其特征在于：包括以下步骤 ：

（1）准备设备：使设备达到要求的位置；

准备头影测量侧位设备，将全景－头影测量一体机开机，根据被检查者身高，调整机器的高度，使外耳道口与耳塞相齐，将双侧耳塞放入外耳道口内。同时，可以根据被测者的年龄可稍调整扫描参数，包括管电流及管电压。

（2） 头影测量侧位拍摄：将设备调整至头影测量侧位模式，第一次曝光被测者，并储存图像；

（3）头影测量发音侧位拍摄：将设备调整至头影测量侧位模式，第二次曝光被测者，同时被测者持续发高元音“i”， 直到拍摄完成，保存图像；拍摄头影测量发音侧位片的目的是为了让该图像与同一被测者的头影测量侧位片对比，观察软腭的抬高情况，腭咽闭合的情况。

（4）在PACS系统中对比分析两次拍摄图像，测定评估软腭形态及发音时软腭的上抬高度及腭咽闭合情况。