[发明专利]硬度测试计和硬度测试方法在审

专利信息
申请号: 201810079168.4 申请日: 2018-01-26
公开(公告)号: CN108362591A 公开(公告)日: 2018-08-03
发明(设计)人: 辻井正治;森聪子;山田贵幸 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01N3/42 分类号: G01N3/42
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 材料特性 硬度测试计 测量 测量数据 硬度测试 压痕 压头 关联
【权利要求书】:

1.一种硬度测试计,用于对压头加载预定的测试力并通过将所述压头压入样品的表面来形成压痕,所述硬度测试计包括处理器和用于存储指令的存储器,在所述处理器执行所述存储器中所存储的指令的情况下,所述硬度测试计还包括以下结构:

测量部,用于随着压痕的形成而测量所述样品的材料特性值;

获取部,用于获取与所述测量部所测量出的所述样品的材料特性值相关联的测量数据;以及

判断部,用于基于所述获取部所获取到的所述测量数据来累积预定的材料特性值,并基于所累积的材料特性值来判断更换所述压头的时间。

2.根据权利要求1所述的硬度测试计,其中,

所述测量部还进行以下测量:

测量形成所述压痕时的压入深度,以及

使用所述压入深度和对所述压头所加载的所述测试力之间的关系来测量所述样品的材料特性值,以及

所述判断部还基于所述测量数据来计算压入期间所产生的机械工作量,针对各硬度值累积所计算出的机械工作量,并且基于针对各硬度值所累积的机械工作量来判断更换所述压头的时间。

3.根据权利要求1所述的硬度测试计,其中,在所述处理器执行所述存储器中所存储的指令的情况下,所述硬度测试计还包括以下结构:

显示控制部,用于在所述判断部判断为需要更换所述压头的情况下,使显示器显示用于提示更换所述压头的警告。

4.根据权利要求2所述的硬度测试计,其中,在所述处理器执行所述存储器中所存储的指令的情况下,所述硬度测试计还包括以下结构:

显示控制部,用于在所述判断部判断为需要更换所述压头的情况下,使显示器显示用于提示更换所述压头的警告。

5.根据权利要求1所述的硬度测试计,其中,

在测量所述样品的材料特性值的次数超过设置值的情况下,所述判断部判断为需要更换所述压头,以及

在测量所述样品的材料特性值的次数没有超过所述设置值的情况下,所述判断部基于所述获取部所获取到的所述测量数据来判断更换所述压头的时间。

6.根据权利要求2所述的硬度测试计,其中,

在测量所述样品的材料特性值的次数超过设置值的情况下,所述判断部判断为需要更换所述压头,以及

在测量所述样品的材料特性值的次数没有超过所述设置值的情况下,所述判断部基于所述获取部所获取到的所述测量数据来判断更换所述压头的时间。

7.根据权利要求3所述的硬度测试计,其中,

在测量所述样品的材料特性值的次数超过设置值的情况下,所述判断部判断为需要更换所述压头,以及

在测量所述样品的材料特性值的次数没有超过所述设置值的情况下,所述判断部基于所述获取部所获取到的所述测量数据来判断更换所述压头的时间。

8.根据权利要求4所述的硬度测试计,其中,

在测量所述样品的材料特性值的次数超过设置值的情况下,所述判断部判断为需要更换所述压头,以及

在测量所述样品的材料特性值的次数没有超过所述设置值的情况下,所述判断部基于所述获取部所获取到的所述测量数据来判断更换所述压头的时间。

9.一种硬度测试计的硬度测试方法,所述硬度测试计具有CPU,并且用于对压头加载预定的测试力并通过将所述压头压入样品的表面来形成压痕,所述硬度测试方法包括以下步骤:

测量步骤,用于经由所述CPU,随着压痕的形成而测量所述样品的材料特性值;

获取步骤,用于经由所述CPU,获取与所述测量步骤中所测量出的所述样品的材料特性值相关联的测量数据;以及

判断步骤,用于经由所述CPU,基于所述获取步骤中所获取到的所述测量数据来判断更换所述压头的时间。

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