[实用新型]场均匀性校准支架有效
| 申请号： | 201720774643.0 | 申请日： | 2017-06-29 |
| 公开（公告）号： | CN207336576U | 公开（公告）日： | 2018-05-08 |
| 发明（设计）人： | 魏延全;廖建明;齐昊;彭静 | 申请（专利权）人： | 深圳市巴伦技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 何平 |
| 地址： | 518000 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 均匀 校准 支架 | ||
1.一种场均匀性校准支架，其特征在于，包括底座及垂直连接所述底座的Z轴支杆；所述底座包括X轴支杆，所述X轴支杆上设有若干个支杆插槽，若干个所述支杆插槽位于同一直线上，若干个所述支杆插槽的开口方向平行于所述Z轴支杆自底部往顶部延伸的方向；所述Z轴支杆可拆卸地连接其中一个所述支杆插槽，所述Z轴支杆的同一侧设有若干个探头连接槽，若干个所述探头连接槽位于同一直线上；若干个所述支杆插槽所在的直线垂直于若干个所述探头连接槽所在的直线。
2.根据权利要求1所述的场均匀性校准支架，其特征在于，所述支杆插槽的数量为四个，所述探头连接槽的数量为四个。
3.根据权利要求2所述的场均匀性校准支架，其特征在于，四个所述支杆插槽中，相邻的所述支杆插槽之间的距离为50cm；四个所述探头连接槽中，相邻的所述探头连接槽之间的距离为50cm。
4.根据权利要求1所述的场均匀性校准支架，其特征在于，所述Z轴支杆由若干个第一连接头和若干个第一连接管连接而成。
5.根据权利要求4所述的场均匀性校准支架，其特征在于，所述第一连接头为三向连接头；所述第一连接头包括第一竖直端和第一垂直端，所述第一竖直端与所述第一连接管连接形成所述Z轴支杆的Z轴主杆部分，所述第一垂直端垂直于所述Z轴主杆部分，所述第一垂直端的孔槽作为所述探头连接槽。
6.根据权利要求1所述的场均匀性校准支架，其特征在于，所述X轴支杆由若干个第二连接头和若干个第二连接管连接而成。
7.根据权利要求6所述的场均匀性校准支架，其特征在于，所述第二连接头为三向连接头；所述第二连接头包括第二竖直端和第二垂直端，所述第二竖直端与所述第二连接管连接形成所述X轴支杆的X轴主杆部分，所述第二垂直端垂直于所述X轴主杆部分，所述第二垂直端的孔槽作为所述探头连接槽。
8.根据权利要求6所述的场均匀性校准支架，其特征在于，所述底座还包括分别连接所述X轴支杆的若干个Y轴支脚，所述Y轴支脚分布于所述X轴支杆的两侧。
9.根据权利要求8所述的场均匀性校准支架，其特征在于，所述Y轴支脚分别由若干个第二连接头和若干个第二连接管连接而成。
10.根据权利要求9所述的场均匀性校准支架，其特征在于，所述Y轴支脚的数量为四个。
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