[实用新型]一种用于老化测试的电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及电子电路技术领域，具体的说，涉及了一种用于老化测试的电路。

背景技术

随着技术的不断发展，太阳能技术得到了不断的提高和完善。相应地，太阳能路灯因为其环保，节能的优点而被广泛使用。但是，由于结构上的缺陷，太阳能路灯存在以下问题：太阳能路灯在长时间使用下，太阳能路灯中的部件会产生损耗和老化，但是很难被察觉。

发明内容

为解决上述问题，本实用新型的目的在于提供一种用于老化测试的电路，可以通过多次充电以及放电操作，对太阳能路灯的充放电控制器进行测试，用于检测充放电控制器当前老化的情况。

本实用新型是通过以下技术来实现的：一种用于老化测试的电路，包括：第一充放电控制电路，用于实现充电操作，所述第一充放电控制电路包括第一感应元器件、第一切换元器件以及第一开关元器件，所述第一感应元器件与第一切换元器件耦接，所述第一切换元器件与第一开关元器件耦接；第二充放电控制电路，用于实现放电操作，所述第二充放电控制电路包括第二感应元器件、第二切换元器件以及第二开关元器件，所述第二感应元器件与第二切换元器件耦接，所述第二切换元器件与第二开关元器件耦接；MCU电路，用于向第一切换元器件或者第二切换元器件发送控制信号，所述MCU电路包括MCU芯片。

进一步的，所述MCU芯片的第十五管脚与接线端DYZH1耦接，所述MCU芯片的第十四管脚与接线端FZZH1耦接。

进一步的，所述第一感应元器件为第一光耦元器件，第一光耦元器件的第一管脚耦接有第一电源；所述第一光耦元器件的第二管脚与接线端DYZH1耦接；所述第一光耦元器件的第三管脚耦接有第二电源；所述第一光耦元器件的第四管脚与第一开关元器件耦接。

进一步的，所述第一切换元器件为N沟道MOS管Q101，N沟道MOS管Q101的栅极与第一光耦元器件的第四管脚耦接，所述N沟道MOS管Q101的栅极通过与电阻R103耦接后接地；所述N沟道MOS管Q101的源极接地；所述N沟道MOS管Q101的漏极与第一开关元器件耦接。

进一步的，所述第一开关元器件为第一继电器，第一继电器的第一管脚与N沟道MOS管Q101的漏极耦接，所述第一继电器的第二管脚耦接有第二电源，所述第一继电器的第三管脚与接线端TYN1+耦接，所述第一继电器的第四管脚与接线端TYN1-耦接，所述第一继电器的第五管脚与接线端POWER1+耦接，所述第一继电器的第六管脚与接线端POWER1-耦接，所述第一继电器的第七管脚与接线端BAT1+耦接，所述第一继电器的第八管脚与接线端BAT1-耦接。

进一步的，所述第二感应元器件为第二光耦元器件，第二光耦元器件的第五管脚耦接有第一电源；所述第二光耦元器件的第六管脚与接线端DYZH1耦接；所述第二光耦元器件的第七管脚耦接有第二电源；所述第二光耦元器件的第八管脚与第二开关元器件耦接。

进一步的，所述第二切换元器件为N沟道MOS管Q102，N沟道MOS管Q102的栅极与电阻R105的另一端耦接，所述N沟道MOS管Q102的栅极通过与电阻R106耦接后接地；所述N沟道MOS管Q102的源极接地；所述N沟道MOS管Q102的漏极与第二开关元器件耦接。

进一步的，所述第二开关元器件为第二继电器，第二继电器的第一管脚与N沟道MOS管Q102的漏极耦接，所述第二继电器的第二管脚耦接有第二电源，所述第二继电器的第三管脚与接线端BAT1+耦接，所述第二继电器的第四管脚与接线端BAT1-耦接，所述第二继电器的第五管脚与接线端FD-CH1+耦接，所述第二继电器的第六管脚与接线端FD-CH1-耦接，所述第二继电器的第七管脚与接线端LOAD1+耦接，所述第二继电器的第八管脚与接线端LOAD1-耦接。

本实用新型有益效果：可以通过多次充电以及放电操作，对太阳能路灯的充放电控制器进行测试，用于检测充放电控制器当前老化的情况。

附图说明

图1是本实用新型所述MCU电路的电路图。

图2是本实用新型所述第一充放电控制电路的电路图。

图3是本实用新型所述第二充放电控制电路的电路图。

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本实用新型的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本实用新型的其他优点与功效。本实用新型还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本实用新型的精神下进行各种修饰或改变。