[发明专利]发光源检测系统与方法

说明书

本发明涉及一种发光源检测系统，包括图像获取模块、图像处理模块及检测模块。图像获取模块获取检测画面，检测画面包括有多个待测区图像，这些待测区图像分别位于检测画面上多个默认区域。图像处理模块电连接到图像获取模块，图像处理模块接收这些待测区图像并分别处理成具有相同二维数量的多个二维像素，其中各二维像素具有光学信息。检测模块电连接到图像处理模块，检测模块读取各待测区图像的二维像素，且根据检测模型以检测各待测区图像的二维像素的光学信息，并判断各待测区图像为合格图像或失格图像。

技术领域

本发明系关于一种检测系统，特别是指一种发光源检测系统与方法。

背景技术

市面上许多产品都具有发光的功能，以发光式键盘为例，其一般是在按键下方装设有发光组件(例如LED)，以通过发光组件发出光线并照射按键，致使按键上所标示的数字或文字能透出光线，而达到预定的使用需求(例如因应光照不足的使用环境)。

然后，在发光产品的生产过程中，一般都会对发光组件进行检测，以确保发光组件所发出的光线符合预定的颜色、亮度或饱和度等等。目前的检测方式是由生产在线的工作人员进行目测判断，然而，此种方式工作人员易因长时间的检测引起视觉疲劳而发生误判的情形，且对眼睛也会造成伤害。另外，对于特殊发光产品来说，例如发光产品的显像为不规则形态或者发光产品经由材料导光后已非基准色等情形，也难以通过人工目测的方式准确判断。

发明内容

有鉴于此，在一实施例中，提供一种发光源检测方法，包括获取步骤：获取检测画面，检测画面包括有多个待测区图像，这些待测区图像分别位于检测画面上多个默认区域、图像处理步骤：将这些待测区图像分别处理成具有相同二维数量的多个二维像素，其中各二维像素具有光学信息、检测步骤：读取各待测区图像的二维像素，并根据检测模型以检测各待测区图像的二维像素的光学信息，并判断各待测区图像为合格图像或失格图像，其中检测模型是指依深度学习算法进行人工智能演算、并获得输出层演算结果的人工智能算法模型，且输出层演算结果包括有合格图像及失格图像。

在另一实施例中，提供一种发光源检测系统，包括图像获取模块、图像处理模块及检测模块。图像获取模块获取检测画面，检测画面包括有多个待测区图像，这些待测区图像分别位于检测画面上多个默认区域。图像处理模块电连接于图像获取模块，图像处理模块接收这些待测区图像并分别处理成具有相同二维数量的多个二维像素，其中各二维像素具有光学信息。检测模块电连接于图像处理模块，检测模块读取各待测区图像的二维像素，且根据检测模型以检测各待测区图像的二维像素的光学信息，并判断各待测区图像为合格图像或失格图像。其中，检测模型是指依深度学习算法进行人工智能演算、并获得输出层演算结果的人工智能算法模型，且输出层演算结果包括有合格图像及失格图像。

综上所述，根据本发明实施例的发光源检测方法与发光源检测系统，通过获取检测画面并经由检测模型检测待测区图像以判断发光源是否合格，可达到不需以人工目测方式办法而提高检测的准确性。此外，通过将各待测区图像分别处理成具有相同二维数量的多个二维像素，可使发光源检测的基准一致，并能提高检测的指令周期。此外，通过检测模型是依深度学习算法进行人工智能演算、并获得输出层演算结果的人工智能算法模型，还可适用于特殊发光产品，例如发光源显像为不规则形态或发光源经由材料导光后已非基准色等情形。

附图说明

图1是本发明发光源检测方法实施例的步骤流程图。

图2是本发明发光源检测系统实施例的系统方块图。

图3是本发明发光源检测系统实施例的画面获取示意图。

图4是本发明发光源检测系统实施例的检测画面示意图。

图5是本发明发光源检测系统实施例的二维像素示意图。

图6是本发明待测区图像实施例的二维像素排列示意图。

图7是本发明待测区图像另一实施例的二维像素排列示意图。