[发明专利]屏幕划痕的检测方法及装置有效
申请号: | 201711386929.2 | 申请日: | 2017-12-20 |
公开(公告)号: | CN108280822B | 公开(公告)日: | 2020-08-25 |
发明(设计)人: | 宋秀峰 | 申请(专利权)人: | 歌尔科技有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06F17/14;G01N21/88 |
代理公司: | 北京博雅睿泉专利代理事务所(特殊普通合伙) 11442 | 代理人: | 郭少晶;马佑平 |
地址: | 266104 山东省青岛*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 屏幕 划痕 检测 方法 装置 | ||
本发明公开了一种屏幕划痕的检测方法及装置,该方法包括:对屏幕图像进行处理,得到屏幕的缺陷点,其中,所述屏幕图像是利用灰度相机对发光的屏幕拍摄得到的;确定任两个缺陷点所成直线的第一斜率,以及包含有每两个缺陷点所成直线的图像区域;从所述图像区域中,获取每一行或者每一列中灰度值最大的像素点;对各行或者各列中灰度值最大的像素点进行拟合处理,得到拟合直线,并确定所述拟合直线的第二斜率;如果所述第二斜率与所述第一斜率的差值位于预设的斜率差值阈值范围内,确定所述图像区域存在划痕缺陷。根据本发明的一个实施例,实现了屏幕划痕的自动化检测。
技术领域
本发明涉及屏幕缺陷检测技术领域,更具体地,涉及一种屏幕划痕的检测方法及装置。
背景技术
显示屏作为终端设备(例如,台式电脑、平板电脑、智能手机等)的输入输出设备,可将电子文件显示到屏幕上。目前,显示屏多为LED(发光二极管,Light Emitting Diode)屏或者OLED(有机发光二极管,Organic Light-Emitting Diode)屏。
用户通过显示屏观看电子文件时,为了保证用户的体验度,显示屏必须具有较好的分辨率,且不能存在缺陷。
目前,在显示屏的生产过程中,通常采用以下两种方式对屏幕的缺陷进行检测:
第一种方式:人工检测,该方式具体为,将显示屏用不同颜色打亮,测试人员通过lens(透镜)观看打亮后的显示屏,确定显示屏是否有缺陷,该缺陷可表现为例如,绿屏暗点,绿屏亮点,红屏亮点,红屏暗点,黑屏亮点,白屏暗点,划痕等。但是,该种检测方式漏检率较高,使得检测结果准确度较低;
第二种方式:基于halcon软件,对拍摄得到的屏幕图像进行检测。该种检测方式仅能检测出显示屏上的缺陷点,对于划痕类缺陷,目前还不能检测出来。
因此,需要提供一种新的技术方法,针对上述现有技术中的至少一个技术问题进行改进。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种用于屏幕划痕的检测方法的新技术方案。
根据本发明的第一方面,提供了一种屏幕划痕的检测方法,其特征在于,包括:
对屏幕图像进行处理,得到屏幕的缺陷点,其中,所述屏幕图像是利用灰度相机对发光的屏幕拍摄得到的;
确定任两个缺陷点所成直线的第一斜率,以及包含有每两个缺陷点所成直线的图像区域;
从所述图像区域中,获取每一行或者每一列中灰度值最大的像素点;
对各行或者各列中灰度值最大的像素点进行拟合处理,得到拟合直线,并确定所述拟合直线的第二斜率;
如果所述第二斜率与所述第一斜率的差值位于预设的斜率差值阈值范围内,确定所述图像区域存在划痕缺陷。
可选地,对屏幕图像进行处理,得到屏幕图像的缺陷点,包括:
基于halcon算法,对所述屏幕图像进行傅里叶变换,得到傅里叶变换后的图像;
对所述傅里叶变换后的图像进行卷积运算,得到卷积运算后的图像;
对所述卷积运算后的图像进行反傅里叶变换,得到反傅里叶变换后的图像;
将所述反傅里叶变换后的图像中各像素点的灰度值与预设的第一灰度阈值进行比较,确定灰度值大于所述第一灰度阈值的像素点为缺陷点。
可选地,从所述图像区域中,获取每一行或者每一列中灰度值最大的像素点,包括:
在所述第一斜率的绝对值大于1的情况下,从所述图像区域中,获取每一行中灰度值最大的像素点;
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