[发明专利]调节准直器和过滤片的方法和装置

说明书

本发明提供了一种调节准直器和过滤片的方法和装置。所述方法包括：基于探测器接收到的X射线的信号，分别计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度；基于所述信号，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离；根据所述归一化信号强度，调整准直器的位置；根据所述偏移距离，调整过滤片的位置。本发明能够在无需调节焦点位置的情况下实现Z控制，并且能够容易地集成到已有的Z控制方式。

技术领域

本发明涉及计算机X射线断层成像(CT，Computed Tomography)技术，特别是一种调节准直器和过滤片的方法和装置。

背景技术

在CT系统中，一般包含准直器来控制X射线在Z轴方向的覆盖范围。由于热效应，球管焦点会移动。为了补偿焦点的移动，准直器应与焦点一起移动。这就是所谓的Z控制(z-control)。

在一些高端的CT系统中还配备有双能过滤片(split filter)，用于产生不同的X射线能谱，以进行双能扫描。双能过滤片应准确定位，使X射线能谱分离良好。

然而现有的实现Z控制的方式一般适用于包含准直器而不包含过滤片的设计。并且，基于现有技术的方案，一般通过计算不同部分的混合强度来确定双能过滤片的中间点，然后将中间点移动到探测器中心。由于高端系统具有焦点控制功能，其一般通过控制焦点的位置而非控制准直器的位置来实现Z控制。

发明内容

有鉴于此，本发明提出了一种调节准直器和过滤片的方法和装置，用以在无需调节焦点位置的情况下实现Z控制。

根据本发明的一个实施例，提供了一种调节准直器和过滤片的方法，其中，所述方法包括以下步骤：

基于探测器接收到的X射线的信号，分别计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度；

基于所述信号，计算在Z轴方向上过滤片中心点的偏移距离；

根据所述归一化信号强度，调整准直器的位置；

根据所述偏移距离，调整过滤片的位置。

根据本发明的一个实施例，所述基于探测器接收到的X射线的信号，分别计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度的步骤包括以下步骤：

计算对应于探测器第一排的左区域和右区域的信号强度的平均值，以及对应于探测器的最后一排的左区域和右区域的信号强度的平均值；

基于计算得到的平均值，计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度。

根据本发明的一个实施例，所述计算对应于探测器第一排的左区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器第一排的左区域的信号强度的平均值；

所述计算对应于探测器第一排的右区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器第一排的右区域的信号强度的平均值；

所述计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器最后一排的左区域的信号强度的平均值；

所述计算对应于探测器最后一排的右区域的信号强度的平均值包括基于公式计算对应于探测器最后一排的右区域的信号强度的平均值；

所述计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度包括基于公式和来计算在Z轴方向上对应于准直器的开口两端的归一化信号强度；