[发明专利]一种面板检测中表面灰尘快速过滤方法及装置

说明书

本发明公开了一种面板检测中表面灰尘快速过滤方法及装置，获取面板上表面灰尘为亮点或亮斑的第一检测画面；判断该面板上表面灰尘覆盖量，若灰尘覆盖量为少量则将灰尘直接过滤，若灰尘覆盖量为大量则过滤大颗粒的灰尘，并利用灰尘为暗点或暗斑的第二检测画面检出的缺陷再到第一检测画面下进行灰尘复判。该方法无需对当前的光学自动检测算法进行根本性修改，只需要增加灰尘量覆盖程度的预判功能和缺陷的复判机制。同时该方法简单有效且更为合理优化，不会影响检测结果的准确性，而且能够起到减少检测的节拍时间的作用，具有容易实现、节省时间、实用性高的特点。

技术领域

本发明涉及图像缺陷领域，具体地涉及一种面板检测中表面灰尘快速过滤方法及装置。

背景技术

在使用AOI对LCD的面板缺陷检测中，面板表面的灰尘过滤是检测方法中很重要的一个环节，直接影响到缺陷检测结果的准确性。LCD面板在生产过程中，其表面不可避免地会沾上灰尘，但是其表面覆盖灰尘量的程度差异较大，附图1为两种不同灰尘覆盖程度情况。对于LCD面板表面覆盖少量灰尘的情况，通过AOI检测方法可以较快将所有的灰尘检测并过滤掉；而对于LCD面板表面覆盖大量灰尘的情况，检测出所有灰尘需要耗费更多的TT。但是面板厂商为了保证生产线的正常运行对AOI缺陷检测的TT有严格要求，且要尽可能地减少不必要的TT。

发明内容

本发明就是针对现有技术的不足，提供了一种节约计算所有灰尘计算耗时、同时也避免了阈值参数的选择带来漏检的面板检测中表面灰尘快速过滤方法及装置。

为了实现上述目的，本发明所设计的一种面板检测中表面灰尘快速过滤方法，其特殊之处在于，包括以下步骤：

S1获取面板上表面灰尘为亮点或亮斑的第一检测画面；

S2判断该面板上表面灰尘覆盖量，若灰尘覆盖量为少量则进行步骤s3的操作，若灰尘覆盖量为大量则进行步骤s4操作；

S3将灰尘直接过滤掉；

S4过滤大颗粒的灰尘，并利用灰尘为暗点或暗斑的第二检测画面检出的缺陷再到第一检测画面下进行灰尘复判。

进一步地，所述步骤S2中采用阈值分割法对第一检测画面上表面灰尘的覆盖量进行判断。

进一步地，所述步骤S3的具体过程如下：

先将图像采用均值滤波进行纹理抑制；

再将原图像减滤波后的图像，并按设定的低灰度阈值分割出图中的全部亮斑，并将结果标记为灰尘。

进一步地，所述步骤S4中过滤大颗粒的灰尘采用设置高灰度阈值进行分割。

进一步地，所述步骤S4中过滤大颗粒的灰尘具体过程如下：

先将图像采用均值滤波进行纹理抑制；

再将原图像减滤波后的图像，分割出图中的明显亮斑。

进一步地，所述步骤S4的具体过程如下：

S41过滤大颗粒的灰尘，则是将检出缺陷位置标记为灰尘；

S42在第二检测画面下，首先判断当前缺陷的被检出结果是否为暗点或暗斑，如果是，则进行步骤S43，否则直接结束；

S43在第一检测画面下判定该缺陷所在位置处是否有亮点或亮斑，如果是则将其标记为灰尘，否则直接结束。

进一步地，还包括获取面板下表面灰尘光学检测图片，并采用自动光学检测方法对灰尘进行过滤。

另一方面，本发明还设计了一种面板检测中表面灰尘快速过滤装置，其特殊之处在于：所述装置包括：

面板缺陷检测单元，用于获取面板缺陷信息，包括用于获取面板上表面灰尘为亮点或亮斑的第一检测画面；