[发明专利]一种缺陷的无损检测系统及方法在审
| 申请号： | 201711284333.1 | 申请日： | 2017-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN107831192A | 公开（公告）日： | 2018-03-23 |
| 发明（设计）人： | 高向东;杜亮亮;黎扬进 | 申请（专利权）人： | 广东工业大学 |
| 主分类号： | G01N25/72 | 分类号： | G01N25/72;G01N27/90 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 罗满 |
| 地址： | 510006 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 缺陷 无损 检测 系统 方法 | ||
1.一种缺陷的无损检测系统，其特征在于，包括用于产生交变磁场的检测线圈和铁芯、用于为所述检测线圈提供脉冲波的脉冲发生器、用于采集试件的热分布图像的热成像摄像机和用于分析所述热分布图像的计算机；
所述检测线圈套设于所述铁芯，且与所述脉冲发生器连接；所述热成像摄像机与所述计算机连接。
2.根据权利要求1所述的无损检测系统，其特征在于，还包括用于感应磁场信息的磁光传感器，所述磁光传感器与所述计算机连接，当对所述试件进行缺陷检测时，所述试件放置于所述磁光传感器；
则对应的，所述计算机具体为用于分析所述热分布图像和所述磁场信息的计算机。
3.根据权利要求2所述的无损检测系统，其特征在于，所述磁光传感器的光源具体为激光光源。
4.根据权利要求3所述的无损检测系统，其特征在于，所述激光光源的激光功率小于或等于500瓦。
5.根据权利要求2-4任一项所述的无损检测系统，其特征在于，还包括用于为所述试件供电的直流电源，当对所述试件进行测试时，所述直流电源与所述试件连接。
6.一种缺陷的无损检测方法，基于权利要求1-5任一项所述的无损检测系统，其特征在于，包括：
利用脉冲波为套设于铁芯的检测线圈供电以产生交变磁场，并移动试件以使所述试件与所述交变磁场发生相对运动；
获取所述试件的热分布图像，并对所述热分布图像进行分析；
依据分析结果确定所述试件的缺陷情况。
7.根据权利要求6所述的无损检测方法，其特征在于，还包括：
利用磁光传感器感应磁场信息，并对所述磁场信息进行分析；
则对应的，所述依据分析结果确定所述试件的缺陷情况具体为：依据对所述热分布图像进行分析的分析结果和对所述磁场信息进行分析的分析结果确定所述缺陷情况。
8.根据权利要求7所述的无损检测方法，其特征在于，所述磁光传感器的光源具体为激光光源。
9.根据权利要求6所述的无损检测方法，其特征在于，所述脉冲波具体为方波。
10.根据权利要求6-9任一项所述的无损检测方法，其特征在于，还包括为所述试件接通直流电。
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