[发明专利]一种集成式激光诱导声表面波缺陷检测装置在审
申请号: | 201711276551.0 | 申请日: | 2017-12-06 |
公开(公告)号: | CN108037077A | 公开(公告)日: | 2018-05-15 |
发明(设计)人: | 易涛;苏明 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17 |
代理公司: | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人: | 郭德忠;仇蕾安 |
地址: | 621054*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 集成 激光 诱导 表面波 缺陷 检测 装置 | ||
1.一种集成式激光诱导声表面波缺陷检测装置,其特征在于,包括:探测头(1)、光纤束(5)及探测器(8);
所述探测头(1)一侧端面的中心设有一个泵浦激光发射口(2),沿泵浦激光发射口(2)周向均匀分布有两个以上探测激光口(3);
所述探测器(8)的个数与探测激光发射口(3)的个数相同;
所述光纤束(5)中的光纤与所述泵浦激光发射口(2)、探测激光发射口(3)一一对应;
外部的激光光源与所述泵浦激光发射口(2)、探测激光发射口(3)一一对应;
整体连接关系如下:探测头(1)的泵浦激光发射口(2)通过光纤束(5)中与之对应的光纤与激光光源连接,探测头(1)的每个探测激光口(3)通过光纤束(5)中与之对应的光纤分别与对应的激光光源及对应的探测器(8)连接;
所述泵浦激光发射口(2)用于发射泵浦激光;
所述探测激光口(3)用于发射探测激光,并接收反射回来的探测激光传输给对应的探测器(8);
所述探测器(8)用于将接收的探测激光信息与样品标准进行比对:当样品标准相比相同时,则该探测激光口(3)所在处无缺陷;当探测器(8)接收的探测激光信息与样品标准相比有变化时,则该探测激光口(3)所在处存在缺陷;
所述探测激光信息包括:探测激光的强度、位相或波形;
所述样品标准为:将对表面没有缺陷的样品进行探测时,探测器(8)接收的探测激光信息作为样品标准。
2.如权利要求1所述的一种集成式激光诱导声表面波缺陷检测装置,其特征在于,还包括支撑臂(4)和保护套(7),所述支撑臂(4)的一端固定在探测头(1)上,光纤束(5)的一端封装在探测头(1)和支撑臂(4)内,另一端包覆有保护套(7),且保护套(7)与支撑臂(4)的另一端连接。
3.如权利要求2所述的一种集成式激光诱导声表面波缺陷检测装置,其特征在于,所述保护套(7)采用软管。
4.如权利要求1所述的一种集成式激光诱导声表面波缺陷检测装置,其特征在于,所述探测头(1)一次测量覆盖的区域为:正对探测头(1)下方的待测物体(6)表面上,以泵浦激光发射口(2)为圆心,以探测激光口(3)为圆周的圆形区域;通过沿待测物体(6)表面移动探测头(1)可以对待测物体(6)表面进行整体扫描。
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