[发明专利]光学检测组件在审
申请号: | 201711184423.3 | 申请日: | 2017-11-23 |
公开(公告)号: | CN108132138A | 公开(公告)日: | 2018-06-08 |
发明(设计)人: | 林苏逸 | 申请(专利权)人: | 矽力杰半导体技术(杭州)有限公司 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
代理公司: | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人: | 蔡纯;范芳茗 |
地址: | 310012 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光电感应器件 光学检测组件 发光器件 出光开口 基板 壳体 第一腔室 转换成电信号 法线方向 光束照射 光学串扰 遮光材料 反射光 光器件 光照射 主表面 侧壁 容纳 申请 开发 | ||
1.一种光学检测组件,包括:
基板;
设置在基板上的发光器件和光电感应器件,所述发光器件产生的光照射在物体上,所述光电感应器件将所述物体的反射光转换成电信号;以及
设置在基板上的壳体,所述壳体由遮光材料组成,包括容纳所述发光器件的第一腔室,以及隔开所述发光器件和所述光电感应器件的侧壁,
其中,所述壳体还包括位于所述第一腔室顶部的至少一个出光开口,所述至少一个出光开口的轴线相对于所述光电感应器件的主表面的法线方向成倾斜角,使得所述发光器件产生的光形成倾斜的光束照射在所述物体上。
2.根据权利要求1所述的光学检测组件,其中,所述至少一个出光开口的轴线相对于所述光电感应器件的主表面的法线方向顺时针或逆时针逆转形成所述倾斜角。
3.根据权利要求1所述的光学检测组件,其中,所述倾斜角在2至30度的范围内。
4.根据权利要求1所述的光学检测组件,其中,所述至少一个出光开口的孔径比大于0.8,所述孔径比为标称深度与标称宽度的比值。
5.根据权利要求1所述的光学检测组件,其中,所述至少一个出光开口的截面形状为选自矩形、圆形、椭圆形、跑道形、月牙形的任一种。
6.根据权利要求1所述的光学检测组件,其中,所述发光器件的至少一部分位于所述至少一个出光开口的下方。
7.根据权利要求1所述的光学检测组件,其中,所述壳体还包括从所述侧壁朝着所述光电感应器件横向延伸的突出部,所述侧壁和所述突出部一起作为隔板。
8.根据权利要求1所述的光学检测组件,还包括:透明封装料,覆盖所述光电感应器件。
9.根据权利要求1所述的光学检测组件,其中,所述壳体还包括用于容纳所述光电感应器件的第二腔室,以及位于所述第二腔室顶部的接收开口。
10.根据权利要求1所述的光学检测组件,还包括,位于所述基板上方的盖板,所述盖板包括透明覆盖层和遮挡层,所述遮挡层用于遮挡所述覆盖层的一部分,从而形成光通过的开口。
11.根据权利要求10所述的光学检测组件,其中,所述盖板与所述壳体之间的间隙小于1mm。
12.根据权利要求1所述的光学检测组件,其中,所述发光器件和所述光电感应器件的距离为1mm。
13.根据权利要求1所述的光学检测组件,还包括:信号处理电路,与所述光电感应器件相连接并且一起形成接收电路。
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