[发明专利]一种基于霍尔集成器的金属线胀系数测试仪

说明书

本发明涉及一种基于霍尔集成器的金属线胀系数测试仪，包括：线胀系数测试仪；所述线胀系数测试仪包括底座、加热管、温度计量装置和微处理器；所述底座上设置有垂直支架，所述加热管与所述垂直支架连接并与所述底座平行；所述加热管中有电加热丝，所述电加热丝呈网状均匀分布于加热管中并与所述微处理器连接，微处理器向电热丝输出加热信号；所述温度计量装置设置于加热管内部，所述温度计量装置与微处理器连接；所述线胀系数测试仪还包括霍尔电压传感器与磁场装置；所述加热管还包括移动塞，所述移动塞与所述霍尔电压传感器连接；所述磁场装置包括第一磁块与第二磁块，所述第一磁块设置于所述加热管一端，所述第二磁块设置于所述加热管另一端。

技术领域

本发明涉及一种实验测量装置，特别涉及一种基于霍尔集成器的金属线胀系数测试仪。

背景技术

金属线胀系数的测定是普通物理实验中较重要与常见的实验题目之一，现有测量金属线胀系数的方法采用光杠杆法，该方法的基本原理是利用电热丝加热待测金属棒，采用温度计测量初态和终态温度，用望远镜和光杠杆测量金属棒由始末状态温差所引起的长度变化，从而得到金属棒的线胀系数。该测量方法存在需要使用的器械占地面积较大，浪费空间，望远镜的调节费时，不够测定不够精确，加热过程不好掌握，并且需要合作才能完成实验测定，过程费时且结果容易有误差。

发明内容

发明目的：针对背景技术中提到的问题本发明提供一种基于霍尔集成器的金属线胀系数测试仪。

技术方案：一种基于霍尔集成器的金属线胀系数测试仪，包括：线胀系数测试仪；所述线胀系数测试仪包括底座、加热管、温度计量装置和微处理器；所述底座上设置有垂直支架，所述加热管与所述垂直支架连接并与所述底座平行；所述加热管中有电加热丝，所述电加热丝呈网状均匀分布于加热管中并与所述微处理器连接，微处理器向电热丝输出加热信号时，所述电加热丝开始加热；所述温度计量装置设置于所述加热管内部，所述温度计量装置与所述微处理器连接，并将检测的实时温度转换为实时温度值向所述微处理器输出；所述线胀系数测试仪还包括霍尔电压传感器与磁场装置；所述加热管还包括移动塞，所述移动塞在加热管内移动，所述移动塞通过一固定杆与所述霍尔电压传感器连接；所述磁场装置包括第一磁块与第二磁块，所述第一磁块设置于所述加热管一端，所述第二磁块设置于所述加热管另一端；所述霍尔电压传感器与所述微处理器连接。

作为本发明的一种优选方式，所述温度计量装置设置于所述加热管内部的一端，并凸起于加热管内部表层。

作为本发明的一种优选方式，所述是电加热丝还包括控温装置，所述控温装置与所述微处理器连接。

作为本发明的一种优选方式，用户通过所述微处理器设定预设温度，当微处理器获取实时温度值到达预设温度时，微处理器向所述控温装置输出恒温信号，控温装置控制电加热丝保持当前温度。

作为本发明的一种优选方式，所述预设温度设置有若干个；微处理器向所述控温装置输出解除恒温信号，控温装置停止对电热丝的控温。

作为本发明的一种优选方式，还包括显示屏、按键组件；所述显示屏、按键组件分别与所述微处理器连接。

作为本发明的一种优选方式，所述加热管内壁光滑。

作为本发明的一种优选方式，所述移动塞在所述加热管内移动，所述移动塞外径值与所述加热管内径值为预设比例。

作为本发明的一种优选方式，所述垂直支架有若干个；所述垂直支架为伸缩支架；通过调节垂直支架改变加热管与底座的角度。

作为本发明的一种优选方式，所述加热管包括封闭端与口端，所述第一磁块设置于封闭端，所述第二磁块与口端活动连接。

本发明实现以下有益效果：

1.加热管与底座平行，降低金属棒自重对结果的影响；