[发明专利]一种几何配准测试装置和方法有效
申请号: | 201711000314.1 | 申请日: | 2017-10-24 |
公开(公告)号: | CN107727232B | 公开(公告)日: | 2023-07-04 |
发明(设计)人: | 袁立银;谢佳楠;何志平;王跃明 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G01J3/02 |
代理公司: | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人: | 李秀兰 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 几何 测试 装置 方法 | ||
1.一种几何配准测试装置,由平行光管(1)、移动靶标(2)、支撑台(3)和一维转折组件(4)组成,其特征在于:
移动靶标(2)由靶标孔(2.1)和平移台(2.2)组成,靶标孔(2.1)在平行光管(1)的焦点上,靶标孔(2.1)的孔径对应待测仪器的瞬时分辨率,驱动平移台(2.2)实现靶标孔(2.1)左右平移;一维转折组件(4)由平面镜(4.1)和一维转台(4.2)组成,平面镜(4.1)口径能覆盖推帚式多单机外拼接成像光谱仪所有单机所有视场的通光要求,一维转台(4.2)转轴与平行光管(1)的光轴垂直,驱动一维转台(4.2)使得来自靶标孔(2.1)的瞬时视场光线以不同角度入射到待测仪器内;
待测仪器为推帚式成像光谱仪,由多台相同设计参数的单机通过外拼接实现大视场,单机数量为n,待测仪器摆放在支撑台(3)上,其空间维与一维转台(4.2)转轴以及来自平行光管(1)的光束光轴垂直。
2.一种基于权利要求1所述的几何配准测试装置的几何配准测试方法,其特征在于方法如下:
几何配准测试时,驱动一维转折组件(4)至某一个视场,驱动移动靶标(2)找到待测仪器探测器上响应极大,记录数据(Nij,θij,Xij),下标i表示单机序号,i=1,2...n,下标j表示视场序号,j=1,2...5,Nij、θij和Xij分别表示第i单机的第j视场的对应的空间维列数、一维转台(4.2)的数值和平移台(2.2)的数值;
对以上数据进行处理得到多单机成像光谱仪的几何配准关系;每台单机选择空间维5个视场,视场序号j为1、2、3、4、5,分别为边缘-1视场、与左边相邻单机结束重叠的视场、中心0视场、与右边相邻单机开始重叠的视场、边缘+1视场,对于单机1,左边没有相邻单机,则该视场不测;对于单机n,右边没有相邻单机,则该视场不测;
被测多单机成像光谱仪的总视场为2|θ11-θn5|;单机i的焦距fi为0.5|Ni5-Ni1|·pi/tan|θi5-θi1|,其中pi为第i台单机的1个瞬时视场对应的探测器像元尺寸;单机i的瞬时视场IFOVi为pi/fi;穿轨几何配准关系即重叠视场为|Ni4-Ni5|,或者表述为|Ni+1,1-Ni+1,2|;沿轨几何配准关系即推帚式成像光谱仪单机间等效狭缝的平行度,将单机1最边缘视场对应的平移台(2.2)的数值X11作为基准,设平行光管(1)的焦距为f,则单机i的等效狭缝倾斜以像元数表示为|Xi5-Xi1|/(f·IFOVi),且相对于单机1,在边缘视场Ni5即Ni+1,2处,等效狭缝与基准视场X11的偏差可表述为|X11-Xi5|/(f·IFOVi),或者表述为|X11-Xi+1,2|/(f·IFOVi+1)。
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