[发明专利]一种光学薄膜测厚仪

说明书

技术领域

本发明涉及薄膜测厚仪装置技术领域，具体为一种光学薄膜测厚仪。

背景技术

薄膜测厚仪，又称为测厚仪、薄膜厚度检测仪、薄膜厚度仪等，薄膜测厚仪专业适用于量程范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。塑料包装材料厚度是否均匀是检测其各项性能的基础。包装材料厚度不均，会影响到阻隔性、拉伸强度等性能；对材料厚度实施高精度控制也是确保质量与控制成本的重要手段。现有测厚仪在使用时其被检测的薄片放置不便，检测后薄片易产生粘附，薄片稳定性不佳，为此，我们提出一种更实用的光学薄膜测厚仪。

发明内容

本发明的目的在于提供一种光学薄膜测厚仪，以解决上述背景技术中提出的使用时被检测的薄片放置不便，检测后薄片易产生粘附，薄片稳定性不佳的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：一种光学薄膜测厚仪，包括固定底座、安装架、处理器和测厚板，所述固定底座的内侧设置有薄膜储放槽，且固定底座的右上端镶嵌有缓冲垫，所述缓冲垫的顶端和测厚台相连接，所述安装架安置于固定底座的左上方，且安装架的顶端固定有调节轴，所述调节轴和控制台相连接，且控制台的右端安装有操作杆，所述处理器固定于操作杆的底侧，且处理器的下方安装有记录板，所述记录板的底端和伸缩杆相连接，所述测厚板镶嵌于伸缩杆的底端，所述测厚台的内侧开设有固定槽，且固定槽的内壁镶嵌有限位杆，所述测厚台的中部安装有待测槽，所述测厚板的内侧设置有感应板，且感应板的外圈固定有橡胶垫。

优选的，所述薄膜储放槽呈凹槽状结构，且薄膜储放槽的外壁为软质材料组成。

优选的，所述缓冲垫和测厚台之间为活动连接，且缓冲垫设置有两个。

优选的，所述调节轴为可翻转装置，且调节轴的翻转角度为0-30°。

优选的，所述控制台和处理器、伸缩杆、感应板之间为电性连接。

优选的，所述测厚板呈圆盘状结构，且测厚板和感应板为一体化设计。

优选的，所述固定槽设置有四个，且关于测厚台中轴线对称。

优选的，所述限位杆为软质材料组成，且限位杆的底端和固定槽相贴合。

优选的，所述待测槽的厚度为测厚台厚度的二分之一，且待测槽内壁呈磨砂状结构。

优选的，所述感应板外壁为光滑材料组成，且感应板外圈和橡胶垫相贴合。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：该光学薄膜测厚仪，

(1)在使用时通过缓冲垫可分散测厚台产生的压力，确保测厚台整体的稳定；

(2)在测厚台的内侧安装有固定槽，可对检测的薄片进行放置，避免在检测时薄片出现位移；

(3)限位杆的设计可在检测之后对薄片进行隔离，避免薄片和固定槽之间产生粘附，减少拿取的麻烦；

(4)此时通过调节轴的旋转可改变检测的角度，适用于不同情况下的使用需求，其感应板外壁为光滑材料组成，可避免在检测时感应板对薄片外壁造成磨损，在感应板的外侧镶嵌有橡胶垫，可增加外圈的摩擦力，大大提高了光学薄膜测厚仪的实用性。

附图说明

图1为本发明结构示意图；

图2为本发明测厚台结构示意图；

图3为本发明测厚板结构示意图。

图中：1、固定底座，2、薄膜储放槽，3、缓冲垫，4、测厚台，5、安装架，6、调节轴，7、控制台，8、操作杆，9、处理器，10、记录板，11、伸缩杆，12、测厚板，13、固定槽，14、限位杆，15、待测槽，16、感应板，17、橡胶垫。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。