[发明专利]一种兼容sparc V8架构SOC的单机应用验证系统

说明书

本发明涉及一种兼容sparcV8架构SOC的单机应用验证系统，其结构由单机应用验证板、激励源、中心控制计算机组成。本发明单机应用验证板，在最大化设计应用验证母板的前提下只更换芯片子板就完成多种芯片的应用验证和针对单芯片的系统集成；对应用验证过程中所需的激励源进行标准化、最大化开发，不仅可以保证单机应用验证系统的重复使用及维护，极大程度的降低应用验证系统开发成本及周期，还能实现基于待验证芯片的系统集成设计和系统模拟；在中心控制计算机上集成成熟模块的应用验证示例，并控制整个验证流程，保证芯片应用验证的高效性和全面性，形成用户开发的通用平台，最大程度发挥验证系统的性能。

技术领域

本发明涉及集成电路应用验证领域，具体涉及一种兼容sparc V8架构SOC的单机应用验证系统。

背景技术

单机应用验证是指针对芯片的设计指标和功能，在特定的背景下进行单机集成设计，以验证芯片设计功能的正确性和性能达到设计指标。单机应用验证是芯片研发设计的最后一个环节，是连接芯片设计和芯片使用之间的重要桥梁，其结果是用户使用和芯片改进设计的重要依据。但现有的针对sparc V8架构SOC芯片的单机应用验证一般以SOC为主控芯片集成最小系统，预留特定模块的测试接口以进行设计功能的测试和应用验证，采用插座或直接焊接的形式形成demo板，再通过测试线缆与主控计算机相连，功能模块接口与外围标准功能模块电路相连以完成对芯片的测试和应用验证。这种单机应用验证存在一定的局限性。首先，以特定的待测器件为基础集成最小系统，不同的芯片或同一种芯片的不同版本不能复用，只能重新设计新的一套单机应用验证板；其次，为了满足不同芯片的测试要求，需提供的应用验证激励源也不尽相同，需要针对不同待测芯片设计专门的激励源或准备特定的设备，应用验证准备工作繁多，且因设计的更新而面对陌生的功能模块应用验证，容易出错或应用验证不充分，设计问题不能充分暴露，导致在整机型号应用过程中出现问题，造成不可挽回的损失。最后，在应用验证过程中因各自为政而没有形成一套通用的应用验证流程和应用验证环境，导致针对特定芯片的应用验证软件开发不规范、不完善，以人工测试为主，不能验证不同功能组合和实现自动化应用验证，效率低下。

发明内容

针对以上单机应用验证存在的不足，本发明提供了一种兼容sparc V8架构SOC的单机应用验证系统，通过更换不同测试子板达到兼容不同芯片的目的，设计单机应用验证母板，满足芯片功能设计的更新和功能扩展的要求；最大化的标准激励源设计，可满足不同芯片、不同应用背景下的系统集成应用验证的需求；积累了标准功能模块的测试用例，基于系统集成架构的中心控制程序，保证了测试的覆盖性和测试流程的自动控制，提高了应用验证的效率。基于以上特点，可最大程度发挥单机应用验证系统的性能，提高验证效率和覆盖性。

为达到上述目的，本发明采用的制备技术方案为：

一种兼容sparc V8架构SOC的单机应用验证系统，包括单机应用验证平台，所述的单机应用验证平台由待验证子板、信号接插件和应用验证母板组成，待测芯片与待验证子板上的测试插座连接，应用验证母板通过信号接插件与待验证子板桥接，单机应用验证平台通过与中心控制计算机和激励源互联在中心控制计算机的控制下自动完成器件单机应用验证。

所述的待验证子板上集成待应用验证芯片，除了对传输速度和传输距离有要求的信号接口模块设置在待验证子板上，其余待验证模块的信号接口全部经过信号接插件引至应用验证母板上。

所述的应用验证母板上集成sparc V8架构SOC的功能模块，并预留需进行组网来进行应用验证的通信协议模块。

所述的应用验证母板上的功能模块根据对待测模块进行分类，按类进行摆放，对需要外部激励或控制信号配合以进行验证的功能模块均预留测试接口，并设置与中心控制计算机的通信接口。