[发明专利]在线检测玻璃原片杂质的方法

说明书

技术领域

本发明涉及检测玻璃原片杂质的技术领域，尤其是在线检测玻璃原片杂质的方法。

背景技术

玻璃原片是玻璃厂生产的固定尺寸的玻璃，在后续的终端用户需求的玻璃尺寸及类型是各式各样的，因此玻璃原片的质量也直接影响了后续加工玻璃的质量，其中钢化玻璃是普通的玻璃切割成要求尺寸通过一系列处理加工而成，但已处理好的钢化玻璃不能进行再切割，磨削等加工，如果玻璃原片中存在缺陷或杂质就可能引起钢化玻璃自爆，因此在切割玻璃原片时，更需要检测到达标准。

而现有技术中，检测玻璃原片杂质的结构的检测精度只能达到0.1mm，再小缺陷的很难实现快速检测，而小于0.1mm的杂质缺陷，在玻璃钢化后，一定条件下也会引起钢化玻璃的自爆。

发明内容

本发明提供的在线检测玻璃原片杂质的方法，旨在解决现有技术中，检测玻璃原片杂质的方法难以对小于0.1mm的玻璃原片中的杂质实现快速检测的问题。

本发明是这样实现的，在线检测玻璃原片杂质的方法，在输送玻璃原片的上片台上设置激光源发射装置以及激光接收及分析装置，沿玻璃原片在所述上片台的输送方向，所述激光源发射装置固定在所述上片台的一侧边，所述激光接收及分析装置位于所述上片台的另一侧边，且位于所述所述激光源发射装置的发射方向上；

当玻璃原片在所述上片台输送至所述激光源发射装置以及激光接收分析装置之间时，所述激光源发射装置朝向所述玻璃原片发射激光，激光透过所述玻璃原片后被所述激光接收分析装置接收，所述激光接收分析装置根据接收到的激光的光源强度形成光源曲线，所述激光接收分析装置根据所述光源曲线分析判断玻璃原片的杂质或缺陷，并对所述杂质或缺陷进行标定。

进一步地，所述的在线检测玻璃原片杂质的方法，所述激光源发射装置包括发射可调节宽度及强度的激光的发射元件。

进一步地，所述的在线检测玻璃原片杂质的方法，所述上片台设置有暗室，所述激光源发射装置和所述激光接收分析装置分别设置在所述暗室的两侧。

进一步地，所述的在线检测玻璃原片杂质的方法，所述暗室包括两个相对布置且与所述激光源发射装置发射激光的方向相同的侧板，所述侧板与所述上片台之间具有间隔。

进一步地，所述的在线检测玻璃原片杂质的方法，所述暗室包括两个固定设置在所述上片台两侧的固定板，两个所述侧板与两个所述固定板围合连接。

进一步地，所述暗室还包括有顶板，所述顶板形成在所述暗室区域上方，且与所述固定板连接。

进一步地，所述的在线检测玻璃原片杂质的方法，还包括检测玻璃原片输送位置的检测装置，沿玻璃原片在所述上片台的输送方向，所述检测装置设置在所述激光源发射装置的前端。

与现有技术相比，本发明提供的在线检测玻璃原片杂质的方法，通过激光发射装置固定在上片台一侧，激光接收分析装置在上片台的另一侧，于激光源的发射方向接受信号，当玻璃输送至一定位置后，激光源及信号激光接收分析装置启动，激光接收分析装置中的分析元件可对接收到的光源强度绘制成光源曲线，没有杂质会形成较平稳的直线或曲线图，一旦有杂质，曲线图会有明显的波峰或波谷，可以实现对小于0.1mm甚至小于0.02毫米的玻璃原片缺陷的检测。解决了玻璃检测设备难以对小于0.1mm的原片杂质实现快速检测的问题。

附图说明

图1是本发明实施例提供的在线检测玻璃原片杂质的结构的立体示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。

以下结合具体实施例对本发明的实现进行详细的描述。

本实施例的附图中相同或相似的标号对应相同或相似的部件；在本发明的描述中，需要理解的是，若有术语“上”、“下”、“左”、“右”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此附图中描述位置关系的用语仅用于示例性说明，不能理解为对本专利的限制，对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语的具体含义。

参照图1所示，为本发明提供的较佳实施例。

本发明提供的在线检测玻璃原片杂质的方法，用于检测玻璃原片所存在的缺陷或杂质，提高玻璃原片杂质缺陷检测精度，降低钢化玻璃自爆的风险。

在线检测玻璃原片杂质的方法，如下：