[发明专利]电容式传感器检测电路及双采样斩波级联结构有效
申请号: | 201710363213.4 | 申请日: | 2017-05-22 |
公开(公告)号: | CN107246890B | 公开(公告)日: | 2020-08-28 |
发明(设计)人: | 郭鹏 | 申请(专利权)人: | 上海矽睿科技有限公司 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00;G01D5/24 |
代理公司: | 上海金盛协力知识产权代理有限公司 31242 | 代理人: | 王松 |
地址: | 201899 上海市嘉*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电容 传感器 检测 电路 采样 级联 结构 | ||
1.一种电容式传感器检测电路,其特征在于,所述传感器检测电路包括:电容式传感器、电荷-电压转换器、双采样-斩波级联结构、模数转换器ADC、数字滤波器;
所述电荷-电压转换器用于将电容的电荷变化转换成电压变化,双采样-斩波级联结构包括斩波结构CHS,斩波结构CHS用于将非线性中的偶次项调制到斩波频率处,模数转换器ADC用于将模拟信号转换成数字信号,数字滤波器用于滤除高频调制偶次非线性项,从而获得高线性度;
所述电荷-电压转换器通过双采样-斩波级联结构分别连接电容式传感器、模数转换器ADC,模数转换器ADC连接数字滤波器;
所述双采样-斩波级联结构包括双采样结构、斩波结构;双采样结构包括第一组双采样开关,斩波结构包括第一组斩波开关、第二组斩波开关,电荷-电压转换器包括运算放大器OPA,复位开关SW1,复位开关SW2,积分电容Ci;第一组斩波开关、第二组斩波开关分别连接运算放大器OPA的输入端、输出端;第二组斩波开关的输出连接第一组双采样开关的输入,第一组双采样开关的输出连接模数转换器ADC的输入。
2.根据权利要求1所述的电容式传感器检测电路,其特征在于:
所述双采样-斩波级联结构还包括双采样结构CDS,双采样结构CDS用于消除部分低频电路噪声;所述斩波结构CHS还用于进一步将残留的低频电路噪声调制到斩波频率处;数字滤波器还用于滤除被调制到斩波频率出的低频噪声,从而获得低噪声。
3.根据权利要求1所述的电容式传感器检测电路,其特征在于:
所述双采样-斩波级联结构还包括双采样结构CDS,双采样结构CDS用于消除部分电路失调电压;所述斩波结构CHS还用于进一步将残留的低频电路噪声调制到斩波频率处;数字滤波器还用于滤除被调制到斩波频率处的失调电压,从而获得更小的零漂失调。
4.根据权利要求1所述的电容式传感器检测电路,其特征在于:
所述电荷-电压转换器通过双采样-斩波级联结构分别连接电容式传感器、模数转换器ADC,模数转换器ADC连接数字滤波器;
所述双采样-斩波级联结构包括双采样结构、斩波结构;双采样结构包括第一组双采样开关,斩波结构包括第一组斩波开关、第二组斩波开关,电荷-电压转换器包括运算放大器OPA,复位开关SW1,复位开关SW2,积分电容Ci;
所述第一组双采样开关、第二组斩波开关通过一组开关实现,通过开关切换电路切换开关控制信号实现各自的功能;
所述第一组斩波开关、第二组斩波开关分别连接运算放大器OPA的输入端、输出端;第二组斩波开关的输出连接模数转换器ADC的输入。
5.一种双采样斩波级联结构,其特征在于,所述双采样斩波级联结构包括斩波结构CHS、双采样结构CDS:
所述斩波结构CHS用于将非线性中的偶次项调制到斩波频率处;所述双采样结构CDS用于消除部分电路失调电压;所述斩波结构CHS还用于进一步将残留的低频电路噪声调制到斩波频率处;
所述双采样斩波级联结构包括双采样结构、斩波结构;双采样结构包括第一组双采样开关,斩波结构包括第一组斩波开关、第二组斩波开关;第一组斩波开关、第二组斩波开关分别连接电荷-电压转换器的运算放大器OPA的输入端、输出端;第二组斩波开关的输出连接第一组双采样开关的输入,第一组双采样开关的输出连接模数转换器ADC的输入。
6.根据权利要求5所述的双采样斩波级联结构,其特征在于:
所述双采样斩波级联结构包括双采样结构、斩波结构;双采样结构包括第一组双采样开关,斩波结构包括第一组斩波开关、第二组斩波开关;
所述第一组双采样开关、第二组斩波开关通过一组开关实现,通过开关切换电路切换开关控制信号实现各自的功能;
所述第一组斩波开关、第二组斩波开关分别连接电荷-电压转换器的运算放大器OPA的输入端、输出端;第二组斩波开关的输出连接模数转换器ADC的输入。
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