[发明专利]电工用再生铜杆性能的评估方法

说明书

本发明提供一种电工用再生铜杆性能的评估方法，测定待测铜杆中各个元素的质量百分数；将待测铜杆制备成金相试样，测定该金相试样的晶粒截距平均值；测定待测铜杆的表面维氏硬度；当待测铜杆中各个元素质量百分数符合预设的电解铜杆元素质量百分数的标准，且待测铜杆制备成的金相试样的晶粒截距平均值在预设的电解铜杆制备成的金相试样的晶粒截距平均值的范围内，且待测铜杆的表面维氏硬度在预设的电解铜杆的表面维氏硬度的范围内，则待测铜杆为电解铜杆；否则，待测铜杆为电工用再生铜杆。本发明通过对待测铜杆的微观组织成分及材料性能两个方面的分析为将待测铜杆进行是否为电工用再生铜杆的评估，提供了一种可靠、便捷的评估方法。

技术领域

本发明涉及铜杆性能评估技术领域，特别是涉及一种电工用再生铜杆性能的评估方法。

背景技术

我国铜矿资源紧缺，废铜利用量逐年增加，近年来每年从国外进口的废杂铜都达到400万吨以上。统计显示，截至2012年底电缆行业使用的铜导体已达540万吨，其中再生铜导体约270万吨，已经占到一半的用量。利用废杂铜回收生产铜，与原生铜的生产相比，可以节能70％～80％，节能及成本优势显著。废杂铜的回收利用不仅扩大了铜金属资源的应用范围，且社会、经济效益显著，具有重要的推广价值。废杂铜制造电工用再生铜杆，其方法是由回收的废杂铜经分类、分级、预处理后直接进入冶金炉内冶炼，并与连铸连轧或连铸工序共同组成铜杆生产线。它的优点是节能、简化工序、生产成本较低；缺点是如何控制好杆的质量，其矛盾比电解铜制杆更突出，难度更大。所以对铜杆性能的评估显得尤为重要。

目前对电工用可再生铜杆的评估多是测定其性能，而忽视了微观组织及成分对其性能的影响，使得其评估结果科学性值得商榷。

传统检测方法对电工用可再生铜杆的评估存在局限性，不能充分评估材料性能，目前迫切需要一种对电工再生铜杆可靠、简便的评估方法。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明要解决的技术问题在于提供一种电工用再生铜杆性能的评估方法。

为了解决上述技术问题，本发明提供一种电工用再生铜杆性能的评估方法，测定待测铜杆中各个元素的质量百分数；将所述待测铜杆制备成金相试样，测定该金相试样的晶粒截距平均值；测定所述待测铜杆的表面维氏硬度；当所述待测铜杆中各个元素质量百分数符合预设的电解铜杆元素质量百分数的标准，且所述待测铜杆制备成的金相试样的晶粒截距平均值在预设的电解铜杆制备成的金相试样的晶粒截距平均值的范围内，且所述待测铜杆的表面维氏硬度在预设的电解铜杆的表面维氏硬度的范围内，则所述待测铜杆为电解铜杆；否则，所述待测铜杆为电工用再生铜杆。

优选地，所述预设的电解铜杆元素质量百分数的标准为：所述待测铜杆中，氧元素的质量百分数小于等于0.045％，除了氧元素和铜元素以外的任一元素的质量百分数小于等于0.003％，铜元素和银元素的质量百分数相加大于99.95％。

进一步地，采用氮氧分析仪测定所述待测铜杆中氧元素的质量百分数。

进一步地，采用全谱直读等离子体光谱仪测定所述待测铜杆中除氧元素以外的其它元素的质量百分数。

优选地，所述预设的电解铜杆制备成的金相试样的晶粒截距平均值的范围为：所述待测铜杆的金相试样处于退火状态时，晶粒截距平均值大于13。

进一步地，所述待测铜杆的金相试样处于退火状态时，晶粒截距平均值采用金属平均晶粒度测定方法GB/T6394-2002中的截点法测定。

优选地，所述预设的电解铜杆的表面维氏硬度的范围为：所述待测铜杆的金相试样处于退火状态时，表面维氏硬度小于85。

进一步地，所述待测铜杆的金相试样处于退火状态时，表面维氏硬度的测试是采用显微维氏硬度计在所述待测铜杆的截面上，负载为100g，加载时间为10s。

如上所述，本发明的电工用再生铜杆性能的评估方法，具有以下有益效果：