[发明专利]防烧卡控制装置及防烧卡控制方法

说明书

本发明涉及控制技术领域，尤其涉及一种防烧卡控制装置及防烧卡控制方法。所述防烧卡控制装置，包括卡座和卡电源，还包括：检测器，用于检测热插拔过程中卡座的状态变化；开关器件，其第一端连接卡电源、第二端接地，且开关器件的控制端与所述检测器连接，用于在所述卡座从插入状态变为拔出状态时使所述卡电源接地，以释放卡电源上的残余电荷。本发明提供的防烧卡控制装置及防烧卡控制方法，在检测到卡座从插入状态变为拔出状态时，通过开关器件将卡电源上的残余电荷接地放电，有效解决了在热插拔过程中卡容易被烧毁的问题，提高了用户终端的性能稳定性，降低了生产成本，减少了量产风险。

技术领域

本发明涉及控制技术领域，尤其涉及一种防烧卡控制装置及防烧卡控制方法。

背景技术

随着科学技术的持续发展和人们生活水平的不断提高，用户终端(手机、平板电脑等)已被广泛的使用。同时，伴随技术的更迭，内置电池设计已成为用户终端电池设计的主流趋势。在此背景下，SIM(Subscriber Identification Module)卡、TF(Trans-flash)卡热插拔技术也赢得了越来越多用户的青睐。所谓热插拔，是指电子设备在上电工作状态下，插入或拔出其部件，其允许用户在不关闭系统、不切断电源的情况下取出和更换电子设备上的部件。对于需要经常更换SIM卡、TF卡的用户，热插拔设计能够使用户在系统开机下更换SIM卡、TF卡等，能给用户带来极大的便利。

随着市场上用户终端产品的日益丰富，用户终端上使用的SIM卡、TF卡等经常需要进行热插拔操作。但是，传统的热插拔设计只考虑了卡电源的开和关，而实际上在插拔卡的过程中，SIM卡、TF卡等卡的信号脚有可能一个碰到卡电源的正极，另一个碰到卡电源的负极，如果卡的电源上剩余有残余电荷，就会造成短路，从而将卡烧毁。目前，主流的解决方法是从结构上避免烧卡情况的发生，即在卡电源的正极上添加一快速放电开关控制芯片。但是，该种解决方法具有以下两方面的缺陷：一方面是由于受快速放电开关控制芯片的性能及供货限制的影响，生产成本较高，量产风险较大；另一方面，该方法的效果较差，即使添加了快速放电开关控制芯片，烧卡现象还是时有发生。因此，如何有效的防止热插拔过程中烧卡现象的发生，同时降低生产成本与风险，是目前亟待解决的技术问题。

发明内容

本发明提供一种防烧卡控制装置及防烧卡控制方法，用以解决在热插拔过程中卡容易被烧毁的问题，提高用户终端的性能稳定性，降低生产成本，减少量产风险。

为了解决上述问题，本发明提供了一种防烧卡控制装置，包括用于安装卡的卡座和用于给所述卡供电的卡电源，还包括：检测器，用于检测热插拔过程中所述卡座的状态变化，所述卡座的状态变化包括从拔出状态变为插入状态和从插入状态变为拔出状态；开关器件，其第一端连接所述卡电源、第二端接地，且所述开关器件的控制端与所述检测器连接，用于在所述卡座从插入状态变为拔出状态时使所述卡电源接地，以释放所述卡电源上的残余电荷。

优选的，所述检测器在检测到所述卡座从拔出状态变为插入状态时，输出低电平信号至所述开关器件；所述检测器在检测到所述卡座从插入状态变为拔出状态时，输出高电平信号至所述开关器件。

优选的，所述开关器件包括第一开关元件、第二开关元件和第三开关元件；所述第一开关元件为NMOS晶体管，其源极连接检测器，栅极连接输入偏置电压，漏极连接系统电源；所述第二开关元件为PMOS晶体管，其源极和栅极共同连接系统电源，漏极连接卡电源；所述第三开关元件为NMOS晶体管，其源极接地，漏极连接卡电源，栅极连接检测器。

优选的，所述检测器在检测到所述卡座从拔出状态变为插入状态时，输出高电平信号至所述开关器件；所述检测器在检测到所述卡座从插入状态变为拔出状态时，输出低电平信号至所述开关器件。