[发明专利]一种检测电容容值变化的方法有效
申请号: | 201710154190.6 | 申请日: | 2017-03-15 |
公开(公告)号: | CN106802372B | 公开(公告)日: | 2019-06-14 |
发明(设计)人: | 骞海荣;谭磊;易新敏 | 申请(专利权)人: | 圣邦微电子(北京)股份有限公司 |
主分类号: | G01R27/26 | 分类号: | G01R27/26 |
代理公司: | 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 | 代理人: | 吴小灿 |
地址: | 100089 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 电容 变化 方法 | ||
1.一种检测电容容值变化的方法,其特征在于,包括利用对待测电容充/放电,将待测电容的容值变化转换为待测时钟信号的频率变化,然后对所述待测时钟信号做差分时序检测,以确定或判断所述待测电容的容值变化;
所述待测电容具有电容正端和电容负端,所述电容正端和电容负端通过控制开关连接,所述电容正端分别连接电流源和比较器的正向输入端,所述电流源连接电压输入端,所述比较器的负向输入端连接电路内部基准电压端,所述比较器的输出端连接第一逻辑电路输入端,第一逻辑电路输出端连接待测时钟信号节点,所述待测时钟信号节点连接所述控制开关的控制端,所述电容负端连接接地端。
2.根据权利要求1所述的一种检测电容容值变化的方法,其特征在于,所述待测时钟信号节点将待测时钟信号作为第一时钟信号输送到计数器中,利用电路内部的已知时钟信号作基准并作为第二时钟信号,对所述第二时钟信号进行N分频处理后得到计数开始信号、计数加减信号和复位信号,通过所述计数开始信号、计数加减信号和复位信号对所述第一时钟信号进行加/减计数,最终根据加/减计数器的剩余数值,判断所述待测电容的容值变化。
3.根据权利要求2所述的一种检测电容容值变化的方法,其特征在于,所述待测电容的容值变化判断方式如下:在一个计数周期结束时如果计数器内剩余数值超过预设值则待测电容容值发生了改变。
4.根据权利要求2所述的一种检测电容容值变化的方法,其特征在于,所述计数器在一个检测周期内对所述第一时钟信号进行分次计数,每次计数中通过采样获得时钟个数,并依次对时钟个数做加/减计数,使计数器内只存储差值。
5.根据权利要求4所述的一种检测电容容值变化的方法,其特征在于,所述分次计数为两次计数,其中一次为加计数,另一次为减计数。
6.根据权利要求4所述的一种检测电容容值变化的方法,其特征在于,所述采样是对所述第一时钟信号的时钟上升沿的采样。
7.根据权利要求4所述的一种检测电容容值变化的方法,其特征在于,所述采样包括采样周期的延时处理。
8.根据权利要求2所述的一种检测电容容值变化的方法,其特征在于,所述最终根据加/减计数器的剩余数值为两次计数的差值。
9.根据权利要求4所述的一种检测电容容值变化的方法,其特征在于,对计数器内存储差值做积分,以提高检测电路的精度。
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