[发明专利]一种差分信号的测量方法及测量系统

说明书

技术领域

本发明属于信号测量技术领域，特别涉及差分信号的测量方法及测量系统。

背景技术

目前，差分信号已成为信号测量中的必测项，尤其是差分时钟信号。差分时钟信号是芯片写入地址/命令信号、或写入/读出数据信号等操作的主要依据。其中，智能终端上常见的差分时钟信号有总线时钟信号及内存芯片时钟信号等。因此，差分时钟信号的测量就变得尤为重要。

由于差分探棒具有带宽、保真度、可用性、共模抑制等优点，一般测量差分信号的方法是采用差分探棒进行测量，无论是点触式差分探棒或焊接式差分探棒，均使差分探棒的正极可靠端接触到差分信号的正信号，差分探棒的负极可靠端接触到差分信号的负信号，使用示波器抓取波形。

但是随着科技技术的发展，元器件的封装越来越小，硬件电路图的设计越来越复杂；并且，差分探头结构较为复杂、体积较大、使用不太方便。采用点触或焊接的方式使用差分探棒来测量差分时钟信号显得比较困难。

其困难在于：(一)、在使用差分探棒进行点触式测量差分信号时，容易因手抖而造成信号明显的抖动，或造成电路短路，使得差分探头无法在电路板上狭窄区域内进行探测。(二)、在使用差分探棒进行焊接式测量差分时钟信号时，在元器件比较密集的情况下，将探棒焊接在测试位置时，其焊接难度明显增大，并极易导致短路。

发明内容

本发明提供的技术方案如下：

本发明提供一种差分信号的测量方法，包括以下步骤：S10、根据两根单端探棒探测电路板上一测试点时所产生的信号波，消除两根单端探棒对应信号波之间的延时；S20、利用消除延时后的两根单端探棒，探测电路板上两处测试点时产生正、负探测信号；S40、根据所述正、负探测信号，计算出所述测试点处的差分信号。

进一步，所述步骤S10进一步包括：S11、利用两根单端探棒探测所述电路板上同一测试点时，产生存在延时的两条信号波；S12、调整两条信号波对应的信号波形，消除两条信号波之间的延时。

进一步，在所述步骤S40之前还包括：S30、根据所述正、负探测信号对应的正、负探测信号波，识别出所述正、负探测信号波的波形是否与预设正、负探测信号波的波形一致；若所述正、负探测信号波的波形与预设探测信号波的波形一致时，跳转至步骤S40。

进一步，还包括以下步骤：S50、根据所述正、负探测信号对应的正、负探测信号波，得到所述正负探测信号波的相关参数，所述相关参数包括频率、峰值、谷值。

进一步，在所述步骤S10之前还包括：S01、在所述电路板上查找出两处测试点；S02、将所述两根单端探棒分别连接于两处测试点、两根等长地线，两根等长地线焊接在靠近所述测试点的同一位置处。

本发明还提供一种差分信号的测量系统，包括两根单端探棒、示波器，所述示波器还包括：延时消除模块，用于根据两根单端探棒探测电路板上一测试点时所产生的信号波，消除两根单端探棒对应信号波之间的延时；信号产生模块，用于利用消除延时后的两根单端探棒，探测电路板上两处测试点时产生正、负探测信号；信号计算模块，用于根据所述正、负探测信号，计算出所述测试点处的差分信号。

进一步，所述信号产生模块，还用于利用两根单端探棒探测所述电路板上同一测试点时，产生存在延时的两条信号波；所述延时消除模块，还用于调整两条信号波对应的信号波形，消除两条信号波之间的延时。

进一步，所述示波器还包括：波形识别模块，用于根据所述正、负探测信号对应的正、负探测信号波，识别出所述正、负探测信号波的波形是否与预设正、负探测信号波的波形一致。

进一步，所述信号计算模块，还用于根据所述正、负探测信号对应的正、负探测信号波，得到所述正负探测信号波的相关参数，所述相关参数包括频率、峰值、谷值。

进一步，所述两根单端探棒分别连接于两处测试点、两根等长地线，两处测试点位于所述电路板上；两根等长地线焊接在靠近所述测试点的同一位置处。

与现有技术相比，本发明提供的一种差分信号的测量方法及测量系统，具有以下有益效果：

1)、本发明由于单端探棒具有结构简单、体积较小、使用方便等优点，单端探棒更适用于元器件比较密集的电路板，可在电路板上狭窄区域内进行探测。在测试差分信号时，在消除两根单端探棒之间的延时后，利用两根单端探棒探测测试点时，两根单端探棒分别量测差分信号的正、负信号线，产生正、负探测信号；再根据正、负探测信号，从而计算出差分信号。