[发明专利]一种工件形貌的测量方法和系统

权利要求书

1.一种工件形貌的测量方法，其特征在于，包括：

利用激光测距仪对待测工件的表面进行扫描，测量待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据；

根据所述待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据，重构出待测工件的表面形貌。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用激光测距仪对待测工件的表面进行扫描，测量待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据包括：

将激光测距仪安装于运动平台上，通过控制运动平台的转动和/或平动实现激光测距仪对待测工件的表面进行扫描，得到待测工件的表面上各点与激光测距仪的激光输出平面之间的距离数据；

根据待测工件的表面上每个点与激光测距仪的激光输出平面之间的距离数据、以及激光测距仪所在的运动平台与基准位置的位置关系，得到待测工件的表面上的该点与基准位置的距离数据。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，待测工件的表面上的每个点与基准位置的距离数据包括：该点的坐标数据以及该点与基准位置之间的距离；

则所述根据所述待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据，重构出待测工件的表面形貌包括：根据待测工件的表面上各点的坐标数据以及相应的与基准位置之间的距离，得到不同点之间的相对深度；根据待测工件的表面上各点的坐标数据以及相对深度，重构出待测工件的表面上各点的分布以及相应的相对深度，作为待测工件的表面形貌。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，当激光测距仪为多个时，所述将激光测距仪安装于运动平台上，通过控制运动平台的转动和/或平动实现激光测距仪对待测工件的表面进行扫描包括：

将多个激光测距仪分别安装于不同的运动平台上，通过控制各运动平台的转动和/或平动实现多个激光测距仪分别对待测工件的不同表面同时进行扫描。

5.如权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述利用激光测距仪对待测工件的表面进行扫描之前，该方法进一步包括：

利用图像传感器对待测工件的表面进行成像探测，得到待测工件的表面的二维图像；

根据所述待测工件的表面的二维图像，得到待测工件的表面对应的扫描逻辑；

则所述利用激光测距仪对待测工件的表面进行扫描包括：根据所述待测工件的表面对应的扫描逻辑控制激光测距仪所在的运动平台的转动和/或平动，实现激光测距仪对待测工件的表面的扫描。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，待测工件为电连接器，待测工件的表面为电连接器的连接端面；

所述根据所述待测工件的表面的二维图像，得到待测工件的表面对应的扫描逻辑包括：

根据电连接器的连接端面的二维图像，计算该连接端面的分布范围、该连接端面中的针脚或针孔区域的分布范围、以及该连接端面中的针脚或针孔区域中针脚或针孔的分布尺寸和分布密度；

根据该连接端面的分布范围、以及该连接端面中的针脚或针孔区域的分布范围，确定该连接端面的外围区域的扫描范围和/或扫描精度；

根据该连接端面中的针脚或针孔区域的分布范围、以及以及该连接端面中的针脚或针孔区域中针脚或针孔的分布尺寸和分布密度，确定该连接端面中的针脚或针孔区域的扫描范围和/或扫描精度。

7.一种工件形貌的测量系统，其特征在于，包括：基座，数据处理装置，以及至少一个激光测距仪；

基座上设置有置物台，置物台用于放置待测工件；

激光测距仪用于对置物台上的待测工件的表面进行扫描，测量待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据并发送至数据处理装置；

数据处理装置用于对所述待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据进行处理，重构出待测工件的表面形貌。