[发明专利]导轨检测方法及系统

说明书

技术领域

本发明涉及光学检测技术领域，具体而言，涉及一种导轨检测方法及系统。

背景技术

在导轨的生产工艺中需要对导轨进行检测，另外在对导轨的长期使用过程中出现的弯曲变形等问题也需要对导轨进行检测。现有技术中，对导轨的检测依赖于人工经验，导致检测不准确，自动化程度低，工人劳动强度大等问题。

发明内容

为了克服现有技术中的上述不足，本发明的目的在于提供一种导轨检测方法及系统，其能够快捷而高效地对待测导轨进行检测，省时省力，自动化程度高，减轻了工人的劳动强度。

为了实现上述目的，本发明较佳实施例采用的技术方案如下：

本发明较佳实施例提供一种导轨检测方法，应用于导轨检测系统。所述导轨检测系统包括相互之间通信连接的导轨检测装置和计算机设备。所述方法包括：

所述导轨检测装置获取待测导轨上预先设置的多个采样点的坐标数据，并将所述多个采样点的坐标数据发送给所述计算机设备；

所述计算机设备接收所述多个采样点的坐标数据，判断所述多个采样点的坐标数据是否在预设的坐标数据范围；

若所述坐标数据在预设的坐标数据范围，对所述多个采样点的坐标数据进行直线度计算，得到所述待测导轨的直线度。

在本发明较佳实施例中，所述方法还包括：

所述导轨检测装置调节与所述待测导轨之间的光路，使所述导轨检测装置发出的入射光线和接收的反射光线平行。

在本发明较佳实施例中，所述导轨检测装置包括平直仪、导轨滑座、反光镜基座以及反光镜。所述平直仪设置在所述待测导轨的一侧，所述导轨滑座设置在所述待测导轨上，所述反光镜与所述反光镜基座连接，所述导轨检测装置调节与所述待测导轨之间的光路的步骤包括：

所述平直仪向所述反光镜发射入射光线，并接收经由所述反光镜反射的反射光线；

所述平直仪根据所述发射光线感测所述反光镜的位置；

根据感测到的所述反光镜的位置，调节所述反光镜的位置，以使所述平直仪发出的入射光线和接收的反射光线平行。

在本发明较佳实施例中，所述导轨检测装置获取待测导轨上预先设置的多个采样点的坐标数据的步骤包括：

获取所述反光镜与所述平直仪之间的距离数据，将所述距离数据作为第一坐标数据；

获取所述反光镜相对于所述平直仪的第一方向角位移数据，所述第一方向角位移数据作为第二坐标数据；

获取所述反光镜相对于所述平直仪的第二方向角位移数据，所述第二方向角位移数据作为第三坐标数据，其中，所述第一方向与所述第二方向垂直；

根据所述第一坐标数据、第二坐标数据和第三坐标数据得到每个采样点的坐标数据。

在本发明较佳实施例中，所述对所述多个采样点的坐标数据进行直线度计算，得到所述待测导轨的直线度的步骤包括：

将所述多个采样点的坐标数据分别投影到所述待测导轨所在的第一平面上，对所述第一平面上的多个采样点的坐标数据进行直线拟合得到第一平面直线；

将所述多个采样点的坐标数据分别投影与所述待测导轨垂直的第二平面上，对所述第二平面上的多个采样点的坐标数据进行直线拟合得到第二平面直线；

根据所述第一平面直线和所述第二平面直线，得到所述待测导轨的误差曲线；

选取包容所述误差曲线的平行线中距离最小的一对平行线，得到所述待测导轨的直线度。

本发明较佳实施例还提供一种导轨检测系统，所述导轨检测系统包括相互之间通信连接的导轨检测装置和计算机设备。

所述导轨检测装置，用于获取待测导轨上预先设置的多个采样点的坐标数据，并将所述多个采样点的坐标数据发送给所述计算机设备；

所述计算机设备，用于接收所述多个采样点的坐标数据，判断所述多个采样点的坐标数据是否在预设的坐标数据范围；若所述坐标数据在预设的坐标数据范围，对所述多个采样点的坐标数据进行直线度计算，得到所述待测导轨的直线度。

在本发明较佳实施例中：

所述导轨检测装置，还用于调节与所述待测导轨之间的光路，使所述导轨检测装置发出的入射光线和接收的反射光线平行。

在本发明较佳实施例中，所述导轨检测装置包括平直仪、导轨滑座、反光镜基座以及反光镜。所述平直仪设置在所述待测导轨的一侧，所述导轨滑座设置在所述待测导轨上，所述反光镜与所述反光镜基座连接：