[实用新型]一种基于线激光拍摄成像的测量系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种非接触式尺寸测量系统，更具体地，涉及一种基于 线激光拍摄成像的测量系统。

背景技术

非接触式尺寸测量装置以光电、电磁、超声波等技术为基础，在仪器的 测量元件不与被测物体表面接触的情况下，即可获得被测物体的各种外表或 内在的尺寸数据特征。非接触式尺寸测量系统与传统的接触式测距系统相比 精度更高、操作更方便、安全系数更高、洁净度高、测量过程中对被测物的 污染程度小，从而被应用于工业生产及科学研究的多个领域。

典型的非接触式尺寸测量方法如激光三角法、电涡流法、超声测量法、 视觉成像测量法、超声波测量法等等，其中视觉成像测量法是指通过机器视 觉产品(即图像摄取装置，分CMOS相机和CCD相机两种)将被摄取目标转 换成图像信号，传送给专用的图像处理系统，根据像素分布和亮度、颜色等 信息，转变成数字化信号，图像系统对这些信号进行各种运算来抽取目标的 特征，进而根据判别的结果来控制现场的设备动作，在测量缺陷和防止缺陷 产品被配送到消费者的功能方面具有不可估量的价值。

现有技术中的视觉成像测量系统具有一定程度上的不足：首先，现有技 术中只能通过对待测物摄取图片来测量待测物的平面尺寸，而对于具有一定 高度差的尺寸特征的测量，例如对于具有一定深度的孔、凹槽、斜面，或者 具有一定高度的凸起物的测量，并没有比较有效的解决方案；其次，由于测 量环境的温度变化造成某些高精度待测物表面上的尺寸特征的细小变化通常 需要与温度一起测量，从而能够得到温度变化对于尺寸特征变化影响的趋势 及规律，现有技术中要实现这个功能还需要进一步完善；对待测物的装夹或 者压紧过程需要人工辅助操作的步骤多、自动化程度低，从而导致整个测量 过程耗费时间过长，且测量不精确。

实用新型内容

针对上述技术中存在的不足之处，本实用新型的目的是提供一种基于线 激光拍摄成像的测量系统，对现有的非接触式测量系统进行优化改进，确保 在保证测量精度的前提下不仅能够测量待测物的平面尺寸，而且还能测量待 测物的高度尺寸，此外还能实时测量不同环境下待测物的尺寸变化，从而获 得环境温度变化对待测物对尺寸影响的变化趋势，此外还提供一种结构简单、 压紧步骤方便的压框，能够提高自动化程度，减少整个测量过程所耗费的时 间。为了实现根据本实用新型的这些目的和其他优点，提供了一种基于线激 光拍摄成像的测量系统，其特征在于，包括：

控制系统；

工作台；

设于所述工作台上的待测物固定组件；以及

固定在所述工作台上的导轨组件，

其中，所述导轨组件包括上导轨、平行设置且相距一定距离的左导轨与右导 轨，所述上导轨可滑动地横跨于所述左导轨与右导轨之间，所述上导轨之上 可往复滑动地设有线激光测量组件，所述待测物固定组件设于所述上导轨之 下及所述左导轨与右导轨之间，所述待测物固定组件、导轨组件及所述线激 光测量组件分别与所述控制系统电连接。

优选的是，所述线激光测量组件包括套设在所述上导轨上并且可往复滑 动的测量组件套架、设于所述测量组件套架的一侧并且可上下滑动的线激光 测量相机、以及设于所述线激光测量相机旁侧的高度传感器与温度传感器。

优选的是，所述线激光测量相机的镜头外圈设置有环形光源。

优选的是，所述测量组件套架的下方一体式地连接有L形的连接臂。

优选的是，所述连接臂的末端设有与所述线激光测量相机相对的扫码器。

优选的是，所述待测物固定组件包括支架、设于所述支架上的固定盘、 以及压覆于所述固定盘上的具有一定重量的压框。

优选的是，所述支架包括支架板、以及用于支持所述支架板的左支脚与 右支脚，其中，所述支架板上设有与所述固定盘的外形及尺寸相适应的安装 槽，所述左支脚与右支脚相平行。

优选的是，所述压框包括用于压紧待测物边缘处的环形框体以及设于所 述环形框体内的框架，所述框架由至少一条横条及纵条一体地相交成型，所 述环形框体的外缘上设有至少两个定位孔，所述环形框体上对称地设有两个 提手。

优选的是，所述固定盘上开设有减重槽，所述减重槽的边缘上设有数目 及位置与所述定位孔相适应的定位柱，所述固定盘的横向方向及纵向方向上 各设有至少一组夹紧装置。