[发明专利]预测介质涂敷目标上天线间电磁耦合度的方法与系统

权利要求书

1.预测介质涂敷目标上天线间电磁耦合度的方法，其特征在于，包括：

S1，利用电磁波一致性几何绕射方法分解天线总场，获得绕射场和所述介质产生的表面波场，并获取所述介质的电磁波反射特性；

S2，基于所述绕射场、所述表面波场及所述介质的电磁波反射特性，利用天线端口网络模型获取二端口间的电磁波散射系数，以预测所述介质涂敷目标上天线间的电磁耦合度；S2进一步包括：

S2.1，利用微波网络散射矩阵建立天线端口网络模型，获取接收端口匹配负载时的二端口网络模型；

S2.2，基于所述绕射场和所述表面波场，根据二端口网络的耦合度表征方法，获取所述电磁波散射系数与所述介质的电磁波反射特性的定量表示。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，S1进一步包括：

S1.1，将天线总场分解为直射场，反射场，绕射场及所述介质产生的表面波场，屏蔽所述直射场和所述反射场，获得所述绕射场及所述表面波场；

S1.2，利用电磁模型获取所述介质的介电损耗参数和磁能损耗参数，获取所述介质的电磁波反射特性参数。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，S1.2进一步包括：

S1.2.1，获取所述介质在外加交变电场下的介电损耗参数；

S1.2.2，获取所述介质在外加交变磁场下的磁能损耗参数；

S1.2.3，根据所述介电损耗参数和所述磁能损耗参数，获取所述介质的电磁波反射特性参数，包括反射系数Г和透射系数T。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述介电损耗参数为复介电常数中的虚部ε，如下：

其中，ε'为复介电常数中的实部，ε为复介电常数中的虚部，D_m为介质中的电位移矢量的振幅，E_m为外加交变电场的振幅，δ_e为电位移矢量落后于外加交变电场的相位角，ε₀为空气的介电常数。

5.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述磁能损耗参数为复磁导率中的虚部μ，如下：

其中，μ'为复磁导率中的实部，μ为复磁导率中的虚部，B_m为介质中的磁感应强度的振幅，H_m为外加交变磁场的振幅，δ_m为磁感应强度落后于外加交变磁场的相位角，μ₀为空气的磁导率。

6.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述反射系数Г、所述透射系数T、所述介电损耗参数ε及所述磁能损耗参数μ的关系如下：

其中，μ_r＝μ′+μ″，ε_r＝ε′+ε″，μ'为复磁导率中的实部，μ为复磁导率中的虚部，ε'为复介电常数中的实部，ε为复介电常数中的虚部；c为真空中传播速度3.0*10⁸，ω为电磁波的角频率，L为材料厚度。