[发明专利]基于纹理特征和颜色特征融合的图像显著性检测方法有效
申请号: | 201611165436.1 | 申请日: | 2016-12-16 |
公开(公告)号: | CN106780582B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 冯冬竹;余航;杨旭坤;许多;何晓川;戴浩;刘清华;许录平 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06T7/40 | 分类号: | G06T7/40;G06T7/00;G06K9/46;G06T7/44;G06T7/10 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 王品华;朱红星 |
地址: | 710071 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 纹理 特征 颜色 融合 图像 显著 检测 方法 | ||
1.一种基于纹理特征和颜色特征融合的图像显著性检测方法,包括:
1)输入原始图像I,对其进行去纹理处理,得到去纹理图像S,利用SLIC方法对去纹理图像S进行超像素分割,得到颜色超像素图像SP1;
2)输入原始图像I,利用Gabor滤波器函数提取其纹理特征,得到纹理特征图像T,利用SLIC方法对纹理特征图进行超像素分割,得到纹理超像素图像SP2;
3)把颜色超像素图像SP1转化到CIE-Lab颜色空间,得到对应的CIE-Lab颜色超像素图像SP3,在CIE-Lab颜色超像素图像SP3中第i个超像素pi和第j个超像素pj,计算颜色距离dapp(pi,pj)1和空间距离dspa(pi,pj);
4)计算CIE-Lab颜色超像素图像SP3中第i个超像素pi的初步对比度Ctr(pi),利用该对比度得到基于颜色特征的颜色显著图SM1;
5)把纹理超像素图像SP2转化到CIE-Lab颜色空间,得到对应的CIE-Lab纹理超像素图像SP4,对CIE-Lab纹理超像素图像SP4中第i个超像素pi和第j个超像素pj构建无相权值表,从该无相权值表中得到第i个超像素和第j个超像素的最短路径,计算pi和pj在最短路径的累积权重dgeo(pi,pj);
6)计算CIE-Lab纹理超像素图像SP4中第i个超像素pi的广度面积Area(pi)和pi边界连接函数为BndCon(pi),根据这两个参数计算背景概率
其中,σBC为比例系数,σBC∈[0.5,2.5];
7)用背景概率作为权值,对初步对比度Ctr(pi)进行加强,得到加强后的对比度ωCtr(pi),利用该对比度ωCtr(pi)得到基于纹理特征的纹理显著图SM2;
8)输入纹理显著图SM2,并利用SLIC方法对纹理特征图进行超像素分割,得到纹理超像素显著图SM3,再将SM3转化到CIE-Lab颜色空间,得到对应的CIE-Lab纹理显著图SM4,在SM4中第i个超像素pi和第j个超像素pj,计算颜色距离dapp(pi,pj)2;
9)将第i个超像素pi和第j个超像素pj分别在CIE-Lab颜色超像素图像SP3中的颜色距离dapp(pi,pj)1在CIE-Lab纹理显著图SM4中的颜色距离dapp(pi,pj)2及背景概率进行线性融合,得到最终对比度ωCtr(pi)*,利用该对比度得到同时包含颜色特征和纹理特征的最终显著图SM。
2.根据权利要求1所述的方法,其中步骤(1)中用SLIC方法对原始图像进行超像素分割,是先将原始图像I转化为CIE-Lab颜色空间和XY坐标下的5维特征向量;再对5维特征向量构造距离度量标准,利用该标准对转化后的图像像素进行局部聚类与分割,得到颜色超像素图像SP1。
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