[发明专利]一种基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法有效

专利信息
申请号: 201611156582.8 申请日: 2016-12-15
公开(公告)号: CN106768882B 公开(公告)日: 2019-02-26
发明(设计)人: 张俊波;张昂;鲜浩;张学军;魏凌;杨金生 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 光学系统 哈特曼波前传感器 测量 畸变测量 出射角 畸变量 测量成本 共焦位置 记录扫描 平行光源 焦距 偏移 测量波 入射角 有效地 入射 视场 像差 像面 扫描
【权利要求书】:

1.一种基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于,该方法测量过程为:小口径平行光源(1)直接入射被测光学系统(3),平行光源(1)绕被测光学系统入瞳(2)中心旋转实现视场角的改变,运动装置通过扫描像面方式使夏克-哈特曼波前传感器(7)处于被测光学系统(3)共焦位置,根据测量所得的扫描角度和波像差引起的偏移角度获得实际出射角,并对比入射视场角,得出不同视场状态下的相对畸变量和畸变量。

2.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的平行光源(1)的口径小于被测光学系统(3)的口径,根据被测光学系统波像差(4)大小、畸变测量精度要求进行选择。

3.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的平行光源(1)需绕被测光学系统的入瞳(2)中心旋转实现入射视场角的改变,通过绕平行光源(1)自身轴线旋转,根据夏克-哈特曼波前传感器(7)子孔径光斑排布情况判断是否绕入瞳中心。

4.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的运动装置包含六个自由度,根据夏克-哈特曼波前传感器(7)子孔径光斑分布、倾斜、偏摆和离焦项像差数值判断运动装置是否将夏克-哈特曼波前传感器(7)调整至共焦位置。

5.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的扫描角度是指在扫描像面中,运动装置将夏克-哈特曼波前传感器(7)调整至被测光学系统(3)的共焦位置状态相对于光轴的运动角度。

6.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的波像差(4)引起的偏移角度是指夏克-哈特曼波前传感器(7)调整至被测光学系统(3)共焦位置后,根据测量的波前斜率信息复原出射光束复原波面,计算得到波面中心点位置的偏移角度。

7.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的实际出射角ω'p是指不同入射视场角状态下,出射光束的实际出射角,由下式计算得到,ω'p=ω'p1+ω'p2,其中,ω'p1为运动装置的扫描角度,ω'p2为波像差(4)引起的偏移角度。

8.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的相对畸变量q由如下公式计算得到,其中,ω'o为理想出射角,ω'p为实际出射角。

9.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的畸变量Δy,由下式计算得到,Δy=q f′tanω,其中,q为相对畸变量,ω为入射视场角,f'为被测光学系统(3)焦距。

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