[发明专利]一种基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法有效
申请号: | 201611156582.8 | 申请日: | 2016-12-15 |
公开(公告)号: | CN106768882B | 公开(公告)日: | 2019-02-26 |
发明(设计)人: | 张俊波;张昂;鲜浩;张学军;魏凌;杨金生 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 光学系统 哈特曼波前传感器 测量 畸变测量 出射角 畸变量 测量成本 共焦位置 记录扫描 平行光源 焦距 偏移 测量波 入射角 有效地 入射 视场 像差 像面 扫描 | ||
1.一种基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于,该方法测量过程为:小口径平行光源(1)直接入射被测光学系统(3),平行光源(1)绕被测光学系统入瞳(2)中心旋转实现视场角的改变,运动装置通过扫描像面方式使夏克-哈特曼波前传感器(7)处于被测光学系统(3)共焦位置,根据测量所得的扫描角度和波像差引起的偏移角度获得实际出射角,并对比入射视场角,得出不同视场状态下的相对畸变量和畸变量。
2.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的平行光源(1)的口径小于被测光学系统(3)的口径,根据被测光学系统波像差(4)大小、畸变测量精度要求进行选择。
3.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的平行光源(1)需绕被测光学系统的入瞳(2)中心旋转实现入射视场角的改变,通过绕平行光源(1)自身轴线旋转,根据夏克-哈特曼波前传感器(7)子孔径光斑排布情况判断是否绕入瞳中心。
4.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的运动装置包含六个自由度,根据夏克-哈特曼波前传感器(7)子孔径光斑分布、倾斜、偏摆和离焦项像差数值判断运动装置是否将夏克-哈特曼波前传感器(7)调整至共焦位置。
5.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的扫描角度是指在扫描像面中,运动装置将夏克-哈特曼波前传感器(7)调整至被测光学系统(3)的共焦位置状态相对于光轴的运动角度。
6.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的波像差(4)引起的偏移角度是指夏克-哈特曼波前传感器(7)调整至被测光学系统(3)共焦位置后,根据测量的波前斜率信息复原出射光束复原波面,计算得到波面中心点位置的偏移角度。
7.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的实际出射角ω'p是指不同入射视场角状态下,出射光束的实际出射角,由下式计算得到,ω'p=ω'p1+ω'p2,其中,ω'p1为运动装置的扫描角度,ω'p2为波像差(4)引起的偏移角度。
8.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的相对畸变量q由如下公式计算得到,其中,ω'o为理想出射角,ω'p为实际出射角。
9.根据权利要求1所述的基于夏克-哈特曼波前传感器的光学系统畸变测量方法,其特征在于:所述的畸变量Δy,由下式计算得到,Δy=q f′tanω,其中,q为相对畸变量,ω为入射视场角,f'为被测光学系统(3)焦距。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电技术研究所,未经中国科学院光电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611156582.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。