[发明专利]一种利用光干涉法测量光学平板玻璃体积模量的方法

说明书

本发明公开了一种利用光干涉法测量光学平板玻璃体积模量的方法，具体按照以下步骤实施：步骤1：通过螺丝施加应力于光学平板玻璃，并通过测量仪器显示应力传感器测量的应力，记录下应力的大小；步骤2：保持步骤1中的应力不变，通过读数显微镜读取在该应力下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q，然后计算出黑斑的半径r；步骤3：通过螺丝改变应力的值，重复步骤1和步骤2，得到光学平板玻璃的不同应力及对应不同应力情况下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q及半径r；步骤4：计算光学平板玻璃的体积模量K。本发明测量方法简单，且测量周期相比传统缩短，测量应用范围扩大，没有大量的材料耗损，测量性重复好，且可用于测量小样品光学平板玻璃。

技术领域

本发明属于应用光学设备技术领域，涉及一种利用光干涉法测量光学平板玻璃体积模量的方法。

背景技术

物体在p0的压力下体积为V0。若压强增加(P0→P0+dP)，则体积减小dV。则有K＝dP/(-dV/V0)，K被称为该物体的体积模量。因此，传统的体积模量测量的方法便是在这原理的基础上设计实验来测量的。这种传统测量方法繁琐，过程复杂，操作不方便，以及小样品测量困难等问题出现。一般在实验室等地方所用到的光学平板玻璃样品为小样品，上述的测量方法适用范围小。

而用牛顿环光干涉法可以解决以上问题。牛顿环仪一般由一块曲率半径很大的待测光学平凸透镜和一块光学平板玻璃构成，采用波长589.3nm的钠黄光光源进行测量，钠黄光经反射镜反射以后垂直入射到牛顿环仪上，可在光学平凸透镜的表面产生等厚干涉环条纹(包括明环和暗环)，改变螺丝的松紧，干涉条纹会随之发生改变。本发明在此现象的基础上深入研究牛顿环干涉图像与光学平板玻璃体积模量的变换关系，得出了一种基于光干涉法测量光学平板玻璃体积模量的测量方法。

发明内容

本发明的目的是提供一种利用光干涉法测量光学平板玻璃体积模量的方法，解决了现有测量方法难以测量小尺寸光学平板玻璃的体积模量，以及测量方法复杂、周期性长的问题。

本发明所采用的技术方案是，一种利用光干涉法测量光学平板玻璃体积模量的方法，具体按照以下步骤实施：

步骤1：通过螺丝施加应力于光学平板玻璃，并通过测量仪器显示应力传感器测量的应力，记录下应力的大小；

步骤2：保持步骤1中的应力不变，利用钠光源发出钠光，钠光经反射镜反射后垂直入射到平凸透镜上，通过读数显微镜读取在该应力下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q，然后计算出黑斑的半径r；

步骤3：通过螺丝改变应力的值，重复步骤1和步骤2，得到光学平板玻璃的不同应力及对应不同应力情况下牛顿环干涉图像中心黑斑的直径Q及半径r；

步骤4：利用步骤3测得的数据，得到光学平板玻璃的体积模量K：

其中，σ为光学平板玻璃的中心应力，K为光学平板玻璃的体积模量，μ为光学平板玻璃的泊松比，a为光学平板玻璃的半径，r为牛顿环干涉条纹黑斑的半径，R为平凸透镜的标准曲率半径，h为光学平板玻璃的厚度。

本发明的特点还在于：

采用的测量装置的具体结构包括底座，底座的凹槽中放置有应力传感器，应力传感器的探头高于底座的凹槽上表面，应力传感器的探头上放置有平凸透镜，平凸透镜上放置有光学平板玻璃，平凸透镜的凸面与光学平板玻璃接触，光学平板玻璃的上表面边缘上放置有上盖，上盖通过固定螺丝与底座连接，上盖与底座之间有空隙；采用的测量装置的具体结构包括底座，底座的凹槽中放置有应力传感器，应力传感器的探头高于底座的凹槽上表面，应力传感器的探头上放置有平凸透镜，平凸透镜上放置有光学平板玻璃，平凸透镜的凸面与光学平板玻璃接触，光学平板玻璃的上表面边缘上放置有上盖，上盖通过固定螺丝与底座连接，上盖与底座之间有空隙；

应力传感器、光学平板玻璃、平凸透镜同轴。