[发明专利]一种FPGA配置控制系统测试方法、控制平台及验证平台有效

专利信息
申请号: 201611132486.X 申请日: 2016-12-09
公开(公告)号: CN106647700B 公开(公告)日: 2019-09-13
发明(设计)人: 湛亚熙;许明亮 申请(专利权)人: 深圳市紫光同创电子有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 江婷
地址: 518057 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 配置控制系统 约束条件 测试位 流数据 测试 控制系统测试 测试执行 控制平台 时序信号 验证平台 写入 随机性 配置接口信息 随机测试数据 读取 测试流程 测试数据 功能验证 配置数据 生成测试 位流数据 验证 表现
【说明书】:

发明提供一种FPGA配置控制系统测试方法、控制平台及验证平台,通过获取对配置控制系统的待测设计进行测试的测试实例,并根据测试实例中的测试执行流程以及生成约束条件生成测试位流数据输入至测试执行平台,其中,测试位流数据中包含根据约束条件生成的指定测试数据以及针对测试流程涉及但无生成约束条件的配置数据所生成的随机测试数据,根据配置接口信息生成对应的写入或读取时序信号,根据时序信号将测试位流数据写入配置控制系统的待测设计进行测试,由于生成的测试位流数据具有随机性,因此可以验证配置控制系统在各个情形下的表现情况,进而提升了配置控制系统功能验证的准确性和可靠性。

技术领域

本发明涉及可编程集成电路设计领域,尤其涉及一种FPGA(Field ProgrammableGate Array,现场可编程门阵列)配置控制系统测试方法、控制平台及验证平台。

背景技术

随着信息与数据科技的发展需求,可编程芯片,特别是现场可编程门阵列凭借其编程灵活、系统稳定、资源丰富、集成度高等优点,其应用领域已经从原来的通信领域扩展到航天、消费电子、工业控制、测试测量等广泛的领域,并且还有不断扩大的趋势。然而随着工艺节点的不断攀升,人们对于可编程电路的系统集成度、可编程资源以及器件规模提出了更高的要求。对于FPGA系统而言,需要将软件产生的配置信息位流通过FPGA配置控制系统加载到电路系统中相应电路模块的配置存储单元SRAM中,来完成相应功能的配置,因此FPGA配置控制系统的设计合理性以及实用性对于用户体验来讲有着举足轻重的作用,对于FPGA配置控制系统的测试在设计流程上也是非常重要的一环。

目前对于FPGA配置控制系统的测试,是在FPGA配置控制系统测试验证平台上进行的,主要是通过FPGA的配套软件工具定制产生需要的测试位流数据,然后配置数据流读取器读取相应的测试位流数据,然后通过格式转换输入到驱动器中进行处理,同时通过预设的配置接口信息生成对应的写入或读取时序信号输入至驱动器中,通过驱动器将测试位流数据根据时序信号写入配置控制系统的待测设计进行测试。在这一流程中,配套软件工具的布局布线效果是固定的,接口也是固定的,因此配套软件工具产生的测试位流数据也是固定的,不具有随机性,也就无法验证到FPGA配置控制系统在随机情况下表现的情况,因此测试验证的准确性不高。

发明内容

本发明提供的一种FPGA配置控制系统测试方法、控制平台及验证平台,主要解决的技术问题是:现有技术中对FPGA配置控制系统进行测试时,生成的测试位流数据不具有随机性,无法验证FPGA配置控制系统在随机情形下表现情况的问题。

为解决上述技术问题,本发明提供一种FPGA配置控制系统测试控制平台,包括:

实例获取器,用于获取对配置控制系统的待测设计进行测试的测试实例,所述测试实例包括测试流程、测试流程中涉及的至少部分配置数据之生成约束条件以及配置接口信息;

配置数据生成器,用于根据所述测试执行流程以及所述生成约束条件生成测试位流数据输入至测试执行平台;所述测试位流数据中包含根据所述约束条件生成的指定测试数据以及针对所述测试流程涉及但无生成约束条件的配置数据所生成的随机测试数据;

配置接口时序发生器,用于根据所述配置接口信息生成对应的写入或读取时序信号输入至所述测试执行平台,以供该测试执行平台将所述位流数据写入所述配置控制系统的待测设计进行测试。

进一步地,本发明还提供一种FPGA配置控制系统测试验证平台,其特征在于,包括测试执行平台以及上述的FPGA配置控制系统测试控制平台;

所述测试执行平台用于根据所述配置接口时序发生器输出的时序信号,将所述配置数据生成器输出的测试位流数据写入所述配置控制系统的待测设计进行测试。

进一步地,本发明还提供一种FPGA配置控制系统测试方法,其特征在于,包括:

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