[发明专利]一种FPGA配置控制系统测试方法、控制平台及验证平台有效

专利信息
申请号: 201611132486.X 申请日: 2016-12-09
公开(公告)号: CN106647700B 公开(公告)日: 2019-09-13
发明(设计)人: 湛亚熙;许明亮 申请(专利权)人: 深圳市紫光同创电子有限公司
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 代理人: 江婷
地址: 518057 广东省深圳市南山区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 配置控制系统 约束条件 测试位 流数据 测试 控制系统测试 测试执行 控制平台 时序信号 验证平台 写入 随机性 配置接口信息 随机测试数据 读取 测试流程 测试数据 功能验证 配置数据 生成测试 位流数据 验证 表现
【权利要求书】:

1.一种FPGA配置控制系统测试控制平台,其特征在于,包括:

实例获取器,用于获取对配置控制系统的待测设计进行测试的测试实例,所述测试实例包括测试流程、测试流程中涉及的至少部分配置数据之生成约束条件以及配置接口信息;

配置数据生成器,用于根据所述测试流程以及所述生成约束条件生成测试位流数据输入至测试执行平台;所述测试位流数据中包含根据所述约束条件生成的指定测试数据以及针对所述测试流程涉及但无生成约束条件的配置数据所生成的随机测试数据;

配置接口时序发生器,用于根据所述配置接口信息生成对应的写入或读取时序信号输入至所述测试执行平台,以供该测试执行平台将所述测试位流数据写入所述配置控制系统的待测设计进行测试。

2.如权利要求1所述的FPGA配置控制系统测试控制平台,其特征在于,所述配置数据生成器包括以下产生器中的至少一种:

配置寄存器自动产生器,用于根据所述生成约束条件产生指定配置寄存器数据,和/或随机产生随机配置寄存器数据;

配置存储数据自动产生器,用于根据所述生成约束条件产生配置到FPGA存储单元的指定数据,和/或随机产生配置到FPGA存储单元的随机数据;

空白数据产生器,用于产生供时钟切换配置或供时间等待的空白数据;

配置数据识别内容产生器,用于产生唯一标识所述测试位流数据的标识数据。

3.如权利要求1所述的FPGA配置控制系统测试控制平台,其特征在于,还包括断言控制器;

所述断言控制器用于与所述配置控制系统的待测设计中的激励输入接口连接,用于直接向所述配置控制系统的待测设计输入外加测试激励;

和/或,

所述断言控制器用于与所述配置控制系统的待测设计中的监测位置连接,用于提取所述监测位置的信号进行监测。

4.一种FPGA配置控制系统测试验证平台,其特征在于,包括测试执行平台以及如权利要求1-3任一项所述的FPGA配置控制系统测试控制平台;

所述测试执行平台用于根据所述配置接口时序发生器输出的时序信号,将所述配置数据生成器输出的测试位流数据写入所述配置控制系统的待测设计进行测试。

5.如权利要求4所述的FPGA配置控制系统测试验证平台,其特征在于,所述测试执行平台包括驱动器、模拟器、监测器以及校验器;

所述驱动器用于根据所述配置接口时序发生器输出的时序信号将所述配置数据生成器输出的位流数据分别写入所述配置控制系统的待测设计以及模拟器;

所述模拟器中包含所述配置控制系统的待测设计的参考模型,用于根据输入的位流数据产生仿真结果输出至所述校验器;

所述监测器用于获取所述配置控制系统的待测设计根据所述测试位流数据输出的运行结果,并将所述运行结果输出至所述校验器;

所述校验器用于对接收到的所述仿真结果和运行结果进行校验处理得到测试结果。

6.如权利要求4或5所述的FPGA配置控制系统测试验证平台,其特征在于,所述配置控制系统的待测设计中的存储单元的描述格式为从阵列功能层进行整体描述的阵列式描述格式。

7.一种FPGA配置控制系统测试方法,其特征在于,包括:

获取对配置控制系统的待测设计进行测试的测试实例,所述测试实例包括测试流程、测试流程中涉及的至少部分配置数据之生成约束条件以及配置接口信息;

根据所述测试流程以及所述生成约束条件生成测试位流数据输入至测试执行平台;所述测试位流数据中包含根据所述约束条件生成的指定测试数据以及针对所述测试流程涉及但无生成约束条件的配置数据所生成的随机测试数据;

根据所述配置接口信息生成对应的写入或读取时序信号;

根据所述时序信号,将所述配置数据生成器输出的测试位流数据写入所述配置控制系统的待测设计进行测试。

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