[发明专利]一种裂缝型储集层孔隙结构定量评价方法有效

专利信息
申请号: 201611128885.9 申请日: 2016-12-09
公开(公告)号: CN106777649B 公开(公告)日: 2020-06-12
发明(设计)人: 邱细斌;肖亮 申请(专利权)人: 博明(北京)能源技术有限公司;中国地质大学(北京)
主分类号: G06F30/13 分类号: G06F30/13;G06F30/20
代理公司: 北京兴智翔达知识产权代理有限公司 11768 代理人: 蒋常雪
地址: 100086 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 裂缝 型储集层 孔隙 结构 定量 评价 方法
【权利要求书】:

1.一种裂缝型储集层孔隙结构定量评价方法,其特征在于,所述定量评价方法包括以下步骤:

1)利用微电阻率扫描成像测井采集数据,并对采集的数据进行处理,得到反映储集层基质和裂缝孔隙度发育情况的孔隙度频率谱;

2)通过对常规的三孔隙度测井资料进行处理,计算储集层孔隙度曲线,并利用计算得到的孔隙度将储集层划分为三种不同类型;

3)针对三种不同类型的储集层,在大孔隙部分和小孔隙部分,分别采用分段幂函数刻度方法,将孔隙度频率谱转换为储集层孔喉半径分布谱;

4)根据毛管压力与孔喉半径之间的关系,将孔喉半径分布谱转化为伪毛管压力曲线;

5)根据构造的伪毛管压力曲线和孔喉半径分布谱,计算储集层孔隙结构评价参数,实现定量评价裂缝型储集层孔隙结构的目的;

其中,

步骤1)中按照如下公式对微电阻率扫描成像测井资料进行处理,以得到储集层孔隙度频率谱;

式中:Φ为孔隙度,小数;m为胶结指数;n为饱和度指数;a和b为与岩性有关的常数;Rmf为泥浆电阻率;Rxo为冲洗带电阻率,在微电阻率扫描成像测井资料中即为测量的电阻率结果,单位均为Ω.m;Sxo为冲洗带含水饱和度;由于微电阻率扫描成像测井的探测深度较浅,主要反映泥浆侵入带的信息,因此,认为Sxo等于1;

步骤2)中计算储集层孔隙度曲线的方法为利用岩石体积物理模型或地区的经验性公式,三种不同类型的储集层按照如下标准划分:I类储集层:孔隙度≥6.0%;II类储集层:2.0%≤孔隙度6.0%;III类储集层:孔隙度2.0%;

步骤3)中对于三种不同类型的储集层,采用如下方法将孔隙度频率谱转化为储集层孔喉半径分布谱:

1)对于I类储集层,在大孔隙部分和小孔隙部分,分别采用如下式所述的幂函数将孔隙度频率谱转化为储集层孔喉半径分布谱;

大孔隙部分:

小孔隙部分:

式中Rc为储集层孔喉半径,单位为μm;POR_dist为储集层孔隙度频率分布,单位为%;m11为待定的系数,由岩心分析得到;n11为待定的系数,由岩心分析得到;m12为待定的系数,由岩心分析得到;n12为待定的系数,由岩心分析得到;

2)对于II类储集层,在大孔隙部分和小孔隙部分,分别采用如下式所述的幂函数将孔隙度频率谱转化为储集层孔喉半径分布谱:

大孔隙部分:

小孔隙部分:

式中Rc为储集层孔喉半径,单位为μm;POR_dist为储集层孔隙度频率分布,单位为%;m21为待定的系数,由岩心分析得到;n21为待定的系数,由岩心分析得到;m22为待定的系数,由岩心分析得到;n22为待定的系数,由岩心分析得到;

3)对于III类储集层,在大孔隙部分和小孔隙部分,分别采用如下式所述的幂函数将孔隙度频率谱转化为储集层孔喉半径分布谱:

大孔隙部分:

小孔隙部分:

式中Rc为储集层孔喉半径,单位为μm;POR_dist为储集层孔隙度频率分布,单位为%;m31为待定的系数,由岩心分析得到;n31为待定的系数,由岩心分析得到;m32为待定的系数,由岩心分析得到;n32为待定的系数,由岩心分析得到;

步骤4)中按照如下式所述的关系将孔喉半径转化为毛管压力:其中Pc为毛管压力,单位为MPa;Rc为孔喉半径,单位为μm;

步骤4)中伪毛管压力曲线得到的步骤为:

1)将孔隙度频率谱的幅度按照储集层孔隙度频率从大到小的顺序进行反向累加,并进行归一化,得到一条在物理意义上与毛管压力曲线上非润湿相饱和度相似的孔隙度频率谱幅度累加曲线;

2)以归一化后的孔隙度频率谱幅度累加曲线为横坐标,以转化的毛管压力为纵坐标作图,即可得到储集层伪造毛管压力曲线。

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