[发明专利]周期脉冲调制信号峰值功率测量装置及方法有效
申请号: | 201611121445.0 | 申请日: | 2016-12-08 |
公开(公告)号: | CN106841769B | 公开(公告)日: | 2019-09-10 |
发明(设计)人: | 陈斌;谢恒贵;徐海燕;陈光尧;任黎丽;戴利剑 | 申请(专利权)人: | 上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所 |
主分类号: | G01R21/00 | 分类号: | G01R21/00;G01R23/16 |
代理公司: | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人: | 余岢 |
地址: | 201109 *** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 周期 脉冲调制 信号 峰值 功率 测量 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及国防军工无线电电子学领域雷达信号测试技术,特别涉及周期脉冲调制信号峰值功率测量装置及方法。
背景技术
随着雷达技术和数字通信技术的发展,脉冲调制信号的应用领域越来越广泛,对于脉冲调制信号峰值功率的测量准确度提出了严格的技术要求,尤其是国防军工领域应用较广泛的相控阵雷达输出的就是脉冲调制信号。
对于相控阵雷达输出的周期脉冲调制信号的峰值功率,一直以来都是设计师和技术人员较为关注的参数。目前,对于功率在-20dBm以上的周期脉冲调制信号峰值功率的测量技术和测试手段都已非常成熟,即使用标准仪表“峰值功率计”可对大于-20dBm的周期脉冲调制信号进行峰值功率的准确测量。但是,对于功率小于-20dBm,乃至小于-80dBm的周期脉冲调制信号,没有标准仪表进行峰值功率的准确测量。
发明内容
本发明解决的问题是现有技术中,无法准确测量功率小于-20dBm的周期脉冲调制信号的峰值功率;为解决所述问题,本发明提供周期脉冲调制信号峰值功率测量装置及方法。
本发明提供的周期脉冲调制信号峰值功率测量装置包括:峰值功率计、信号分析仪;脉冲调制信号源在峰值功率计与信号分析仪之间切换。
本发明提供的周期脉冲调制信号峰值功率测量方法,包括:步骤一、利用峰值功率计对周期脉冲调制信号峰值功率进行初始峰值功率定标;步骤二、定标后,保持周期脉冲调制信号不变,设置信号分析仪的测量参量;步骤三、采用信号分析仪测量低于-20dBm的周期脉冲调制信号的峰值功率。
进一步,所述步骤一利用峰值功率计在-20dBm或以上的测量范围内,对周期脉冲调制信号峰值功率进行初始峰值功率定标,测量结果为P1。
进一步,所述步骤二包括:步骤2.1、设置信号分析仪的测量参量,使信号分析仪上显示主瓣和邻近旁瓣的频谱;信号分析仪显示频谱宽度在10个旁瓣之内;步骤2.2、搜寻主瓣峰值功率,利用信号分析仪测量周期脉冲调制信号主瓣峰值功率;步骤2.3、获得信号分析仪主频峰值功率参考值,设测量结果为P2。计算峰值功率计测试定标值和信号分析仪定标主频峰值功率参考值的电平补偿值Δ(dB),即Δ=P1-P2。
进一步,所述步骤三包括:保持周期脉冲的占空比、上升/下降时间波形特征不变,信号分析仪的测量参量设置不变,调节周期脉冲调制信号的功率低于-20dBm,采用信号分析仪测量主频峰值功率并补偿电平补偿值,得到周期脉冲调制信号峰值功率。
本发明的优点包括:
根据周期脉冲调制信号的频谱特性、周期脉冲信号特点,利用峰值功率计和信号分析仪联合测试的方式,实现峰值功率-20dBm以下的周期脉冲调制信号的准确测量,解决了周期脉冲调制信号峰值功率无法准确测量的问题。
附图说明
图1为本发明实施例提供的周期脉冲调制信号峰值功率测量装置的结构示意图。
具体实施方式
下文中,结合附图和实施例对本发明作进一步阐述。
如图1所述,本发明提供的周期脉冲调制信号峰值功率测量装置包括:峰值功率计3、信号分析仪4;脉冲调制信号源在峰值功率计3与信号分析仪4之间切换。本实施例中,脉冲调制信号源与峰值功率计3与信号分析仪4之间用单刀双掷开关连接;所述单刀双掷开关的第一掷1与峰值功率计3连接,第一掷2与信号分析仪4连接,刀与脉冲调制信号源连接。在其他实施例中,可以采取其他连接方法,需要满足的是脉冲调制信号源可以在与峰值功率计3连接,和与信号分析仪4连接之间切换。
本发明还提供,采用所述周期脉冲调制信号峰值功率测量装置的测量方法,包括:
步骤一、利用峰值功率计对周期脉冲调制信号峰值功率进行初始峰值功率定标;本实施例中,利用峰值功率计在-20dBm或以上测量范围内,对周期脉冲调制信号峰值功率进行初始峰值功率定标,设测量结果为P1。峰值功率计可以准确测量-20dBm或以上测量范围内的周期脉冲调制信号的峰值功率。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所,未经上海精密计量测试研究所;上海航天信息研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611121445.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。