[发明专利]测量子系统和测量系统有效
申请号: | 201611120164.3 | 申请日: | 2014-05-05 |
公开(公告)号: | CN106959102B | 公开(公告)日: | 2019-11-15 |
发明(设计)人: | 克努特·西尔克斯;伯恩哈德·麦茨勒;E·V·范德泽万;T·菲德勒;R·帕雷斯;A·韦利赫夫;J·舍加 | 申请(专利权)人: | 赫克斯冈技术中心 |
主分类号: | G01C15/00 | 分类号: | G01C15/00;G01S19/14 |
代理公司: | 11127 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 李辉;吕俊刚<国际申请>=<国际公布>= |
地址: | 瑞士赫*** | 国省代码: | 瑞士;CH |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 子系统 系统 | ||
【权利要求书】:
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于赫克斯冈技术中心,未经赫克斯冈技术中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611120164.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种基于光流法的室内定位方法
- 下一篇:测量子系统和测量系统