[发明专利]一种双振镜扫描系统的位置校准系统及校准方法有效
申请号: | 201610270314.2 | 申请日: | 2016-04-27 |
公开(公告)号: | CN107314740B | 公开(公告)日: | 2020-02-04 |
发明(设计)人: | 梁乐贤;邓览;王海彬;石磊 | 申请(专利权)人: | 深圳中集天达空港设备有限公司;中国国际海运集装箱(集团)股份有限公司 |
主分类号: | G01B11/00 | 分类号: | G01B11/00 |
代理公司: | 11438 北京律智知识产权代理有限公司 | 代理人: | 罗巍;王卫忠 |
地址: | 518000 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 双振镜 扫描 系统 位置 校准 方法 | ||
本发明双振镜扫描系统的位置校准系统及校准方法,该校准方法包括如下步骤:将双振镜扫描系统的水平振镜以步距角旋转,测量水平振镜于每一步距角下测距装置反馈的距离数据;当水平振镜旋转至使测距装置发出的激光光斑照射到校准装置的第一板边缘的第一位置时,则于第一位置调节水平振镜旋转第一预定角度,以将水平振镜调整至水平零点位置;将双振镜扫描系统的垂直振镜以步距角旋转,测量垂直振镜于每一步距角下测距装置反馈的一距离数据;当垂直振镜旋转至使测距装置发出的激光光斑照射到校准装置的第二板边缘的第二位置时,则于第二位置调节垂直振镜旋转第二预定角度,以将垂直振镜调整至垂直零点位置。本发明校准简单、快捷,校准精度高。
技术领域
本发明涉及一种双振镜校准系统及校准方法,尤指一种双振镜位置校准系统及校准方法。
背景技术
双振镜扫描系统是常见的一种扫描系统,其结构简单,精度高,易于操作控制,在一些大中型场景的扫描中应用很广。在扫描系统中,所选取的零点的位置时关系整个扫描数据解算准确性和精度的关键之一,零点如果不正确,将直接导致测量数据的错误和偏差。而系统零点的标定通常都非常复杂,甚至要借助多种其他工具和仪器才能有完成,所以一般的扫描系统在标定出零点之后,都设计了零点校准的功能,通过校准可以指示系统当前的零点位置是否正确。
一般来说,现有的方案通常都是通过以下几种方法来实现:
1.设置机械限位,通过限位开关来来检测是否到达零点,这种方法检测零点的精度不高,但成本低,维护简单,主要应用于精度要求不高的场合。
2.加装位置传感器如编码器,记录零点位置后在传感器上标记处,而后每次校准时以传感器上标记的位置为准,这种方法的精度依赖于传感器的精度,安装复杂,而且精度高的传感器成本高,一般应用于有高精度要求的场合。
3.在系统外设置一个基准,计算出该基准理论位置,通过扫描该基准,分析扫描的数据得出的位置是否与理论位置一致(在容差范围内)来判断是否在零点,这种方法安装复杂,并且只适合于中大型的固定扫描场合,容易受到外界条件的干扰。
发明内容
针对现有技术存在的问题,本发明的目的在于提供一种成本低廉、实现简单、精度高的双振镜位置校准系统及校准方法。
为实现上述目的,本发明双振镜扫描系统的位置校准方法,包括测距装置和校准装置,包括如下步骤:
将所述双振镜扫描系统的一水平振镜以一步距角旋转,测量所述水平振镜于每一步距角下所述测距装置反馈的一距离数据;
当所述水平振镜旋转至使所述测距装置发出的激光光斑照射到所述校准装置的第一板边缘的第一位置时,则于所述第一位置调节所述水平振镜旋转一第一预定角度,以将所述水平振镜调整至水平零点位置;
将所述双振镜扫描系统的一垂直振镜以一步距角旋转,测量所述垂直振镜于每一步距角下所述测距装置反馈的一距离数据;
当所述垂直振镜旋转至使所述测距装置发出的激光光斑照射到所述校准装置的第二板边缘的第二位置时,则于所述第二位置调节所述垂直振镜旋转一第二预定角度,以将所述垂直振镜调整至垂直零点位置。
进一步,随水平振镜旋转对应的所述测距装置测量到的距离数据变化满足一预定条件时,则所述水平振镜旋转至使所述测距装置发出的激光光斑照射到所述校准装置的第一板边缘的第一位置。
进一步,随垂直振镜旋转对应的所述测距装置测量到的距离数据变化满足一预定条件时,则所述垂直振镜旋转至使所述测距装置发出的激光光斑照射到所述校准装置的第二板边缘的第二位置。
进一步,还包括:旋转所述水平振镜一角度后,于所述测距装置测量距离数据出现距离跳变时,在跳变点以所述第一预定角度旋转所述水平振镜,以将所述水平振镜调整至第一邻近零点位置;
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