[发明专利]一种调制度定标方法及装置有效

专利信息
申请号: 201610137230.1 申请日: 2016-03-10
公开(公告)号: CN105846919B 公开(公告)日: 2018-03-27
发明(设计)人: 何昭;郭晓涛;聂梅宁;张子龙;杨暧宁;田伟;靳小磊 申请(专利权)人: 中国计量科学研究院
主分类号: H04B17/20 分类号: H04B17/20;H04B17/21;H04B17/29
代理公司: 北京华沛德权律师事务所11302 代理人: 房德权
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 调制 定标 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及信号测量领域,尤其涉及一种调制度定标方法及装置。

背景技术

为了将基带信号进行有效的辐射和传输,必须把基带信号的频谱搬移到很高的射频频段上,这一过程称为调制。现有技术中,先计算好各信道所需的噪声信号功率谱密度比值后,通过改变各信号的调制度(调制指数)来调整各信号的功率,使其能同时达到门限,满足功率分配原则。设备要求调制度在一定范围内可调,精度满足要求,现有的调制度测量方法主要针对单一调制频率,难以对多频率成分调制波的各频率分量调制度进行测量,并且忽略了测量接收机的非线性失真。因此,不能对诸如航空调制领域的VOR和ILS信号调制度进行准确测量。

发明内容

本发明提供一种调制度定标方法及装置,解决现有技术中难以对多频率成分调制波的各频率分量调制度进行测量,并且忽略了测量接收机的非线性失真的技术问题。

本发明的目的是通过以下技术方案实现的:

一种调制度定标方法,包括:

获取接收机非线性误差;

对待测调制度信号进行频谱测量,以测量各频谱分量的调制度;

根据接收机非线性误差,对测量的各频谱分量的调制度进行修正。

一种调制度定标装置,包括:

计算模块,用于获取接收机非线性误差;

信号发生模块,用于产生待测调制度信号和单频正弦波信号;

频谱测量模块,用于对待测调制度信号进行频谱测量,以测量各频谱分量的调制度;

修正模块,用于根据接收机非线性误差,对测量的各频谱分量的调制度进行修正。

本发明的实施例提供了一种调制度定标方法及装置,通过获取接收机非线性误差,对待测调制度信号进行频谱测量,以测量各频谱分量的调制度,根据接收机非线性误差,对测量的各频谱分量的调制度进行修正,解决了多频率成分调制信号的调制度测量,通过定标测量接收机的非线性误差实现了调制度的准确测量,可实现对多种调制信号源的准确定标。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动性的前提下,还可根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例的一种调制度定标方法的流程图;

图2为本发明实施例的一种调制度定标装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细的说明。

本发明实施例提供了一种调制度定标方法,如图1,包括:

步骤101、获取接收机非线性误差;

步骤102、对待测调制度信号进行频谱测量,以测量各频谱分量的调制度;

步骤103、根据接收机非线性误差,对测量的各频谱分量的调制度进行修正。

其中,步骤101具体可以包括:

步骤101-1、接收机接收并测量单频正弦波信号的第一幅度值Amp1;

步骤101-2、通过标准衰减器对单频正弦波信号进行衰减处理,并通过接收机接收并测量衰减处理后的所述单频正弦波信号的第二幅度值Amp2;

步骤101-3、根据所述第一幅度值与所述第二幅度值的差值(Amp1-Amp2),获取信号衰减值;

其中,衰减值为Amp1-Amp2(单位为dBm);

步骤101-4、计算信号衰减值与标准衰减器的衰减值Att之差,以获得接收机的非线性误差ΔA。

其中,ΔA=Att-(Amp1-Amp2)(单位为dBm)

步骤102具体可以包括:

步骤102-1、测量载波幅度值A0;

步骤102-2、测量上边带谱线频率f+Δf及对应的幅度值A1,测量下边带谱线频率f-Δf及对应的幅度值A2;

步骤102-3、计算上下边带谱线相对载波的衰减测量值,其中,上边带谱线相对载波的衰减测量值为ΔA1=A1-A0,下边带谱线相对载波的衰减测量值为ΔA2=A2-A0;

步骤102-4、计算频谱分量的调制度M=(M1+M2)/2,其中,M1为上边带频谱的调制度为M1=2*10(ΔA1/20),M2为下边带频谱的调制度为M2=2*10(ΔA2/20)

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国计量科学研究院,未经中国计量科学研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201610137230.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top