[发明专利]光学检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种光学检测装置。

背景技术

随着科技的进步，越来越多的电子产品开始使用金属材质作为壳体，以增加产品的美观。金属壳体可藉由机械加工(例如铣床或车床)而得到需求的形状与特征，这些形状与特征可利用光学仪器拍摄其影像作检测。然而加工过后，金属表面可能会变得粗糙(例如加工所产生的刀纹)，如此一来，光学仪器所拍摄的影像可能会包含粗糙表面的信息，使得量测不稳定，甚至无法量测出欲检测的特征。

发明内容

本发明提供一种光学检测装置，包含取像装置、面光源与固定架。取像装置具有取像位置。面光源置于取像装置与取像位置之间。面光源包含导光板与发光元件。导光板具有第一出光面、第二出光面与入光面。第一出光面与该二出光面相对设置，且入光面连接第一出光面与第二出光面。取像装置面对导光板的第二出光面设置。发光元件面对导光板的入光面设置。发光元件发出的光束自入光面进入导光板，由导光板的第一出光面离开并进入取像位置，且自取像位置反射的光束穿透导光板的第一出光面与第二出光面而进入取像装置。固定架连接该取像装置与该面光源，且至少包围该取像装置与该面光源之间的空间。

其中该面光源更包含多个散射元件，所述散射元件设置于该导光板的该第二出光面。

其中至少一个该些散射元件包含：一黑色覆盖层；以及一白色颗粒，置于该黑色覆盖层与该导光板的该第二出光面之间。

其中该黑色覆盖层完全覆盖该白色颗粒。

其中该些散射元件覆盖该第二出光面的20％至25％的面积。

其中该取像装置具有一工作距离，该面光源置于该取像装置至该取像装置的一半该工作距离之间。

其中该导光板的该入光面与该第一出光面实质垂直，且亦与该导光板的该第二出光面实质垂直。

其中该面光源的该发光元件的出光方向不同于该取像装置的收光方向。

其中该取像装置更具有一收光面，该面光源完全覆盖该取像装置的该收光面。

其中该取像装置的该收光面与该面光源的该第二出光面实质平行。

因在上述实施方式中，面光源置于取像装置与取像位置之间，因此光束不会在待测物上形成取像装置的阴影，此种设置即为无影式检测装置，且本实施方式的光学检测装置对于取像装置的工作距离的选择有较大的自由度。另外，上述实施方式的光学检测装置所拍摄的待测物影像，其特征能被加强，同时粗糙表面的影像被压抑，使得待测物的特征能够被突显，以取得清晰的待测物的特征影像。固定架可隔绝环境光。

附图说明

图1为本发明一实施方式的光学检测装置的示意图。

图2为图1的面光源的放大图。

图3为图1的导光板的上视图。

符号说明：

100：取像装置 220：发光元件

102：收光面 222、224：光束

110：取像位置 230：散射元件

200：面光源 232：黑色覆盖层

210：导光板 234：白色颗粒

212：第一出光面 300：固定架

214：第二出光面 900：待测物

216：入光面 D：工作距离

具体实施方式

以下将以图式公开本发明的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本发明。也就是说，在本发明部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化图式起见，一些常见惯用的结构与元件在图式中将以简单示意的方式绘示。