[实用新型]采用单高压源的高压参数测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及分立器件测试技术领域，尤其是指一种可实现高压参数并行测试，测试效率高、稳定性好、故障率低的采用单高压源的高压参数测试装置。

背景技术

目前分立器件测试领域，高压参数的测试主要包括耐压参数测试和高压漏电参数测试两类。市场上的分立器件测试机，大多只支持单工位测试，配备一套高压模块和一套低压模块，测试效率低下，已难以满足分立器件测试领域对高速测试的需求。支持多工位并行测试的分立器件测试机，模块组成大多为将单工位测试机的模块数量翻倍，如需实现4工位并测，则需配备4套高压模块和4套低压大电流模块，由于高压模块的数量增多，模块相互之间的高压干扰，导致高压参数测试不稳定，同时增高了测试机故障率，降低了实际生产中的测试效率。

基于以上现状，目前分立器件测试领域急需一种用单高压模块实现高压参数多工位并行测试的测试解决方案。

中国专利授权公开号：CN202025077U，授权公开日2011年11月2日，公开了一种三相电能表耐压测试装置，包括设有耐压测试控制模块的计算机、用于输出高电压的程控耐压仪、与电能表连接用于控制电能表高压输入的高压继电器板、用于对漏电流自动测试并控制高压继电器板高压输出的漏电流测试单元；所述的程控耐压仪与漏电流测试单元相连以进行高压输出和测试；计算机与程控耐压仪通讯连接以控制程控耐压仪的输出；计算机与漏电流测试单元通讯连接以控制漏电流测试单元并读取测试结果；漏电流测试单元与高压继电器板连接以将高压通过高压继电器控制输出给被测电能表。该发明的不足之处是，功能单一，不能用于对分立器件进行耐压测试。

发明内容

本实用新型的发明目的是为了克服现有技术中的分立器件测试机，单工位测试效率低下；多工位测试不稳定的不足，提供了一种可实现高压参数并行测试，测试效率高、稳定性好、故障率低的采用单高压源的高压参数测试装置。

为了实现上述目的，本发明采用以下技术方案：

一种采用单高压源的高压参数检测装置，包括上位机，高压源和m个低压源，m≥2；上位机分别与高压源和各个低压源电连接，高压源分别与m个被测器件电连接；

每个低压源均包块数模转换电路、积分电路、功放电路、测量电路、钳位电路和模数转换电路；数模转换电路、积分电路、功放电路、测量电路和模数转换电路依次电连接，钳位电路分别与测量电路和积分电路电连接，测量电路与积分电路电连接；m个低压源的功放电路的输出端分别与m个被测器件电连接。

上位机负责控制高压源及各个低压源的输出方式和具体输出值，并对高压源及各个低压源检测到的参数值进行分析判断；高压源模块为电流电压源，输出能力为±1000V/50mA，受上位机控制，既可用来产生指定电压，同时测试输出电流，也可产生指定电流，同时测试输出电压，并具备电压电流输出的钳位功能；

各个低压源为电流电压源，输出能力为±50V/10A，其它功能与高压源相同；

对于耐压参数测试，上位机控制高压源选择加压测压模式，各个低压源选择加流测压模式，高压源在加压测压模式下，输出测试电压VH；各个低压源在加流测压模式下，分别输出测试电流I，各个低压源模块在加流测压模式下，分别测得被测电压V1、V2、V3、Vm，上位机对V1、V2、V3、Vm分别进行处理，得到被测器件的耐压值VH-V1、VH-V2、VH-V3、VH-Vm。

对于高压漏电参数测试，上位机控制高压源选择加压测压模式，各个低压源选择加压测流模式，高压源在加压测压模式下，输出测试电压VH；四个低压源在加压测流模式下，分别输出0V电压，各个低压源在加压测流模式下，分别测得被测电流I1、I2、I3、Im，上位机中设有漏电流阈值，上位机将I1、I2、I3、Im与漏电流阈值进行比较，当I1、I2、I3、Im中任意一个或多个Ii大于漏电流阈值，则上位机做出Ii对应的被测器件高压漏电参数不合格的判断。

因此，本实用新型具有可实现高压参数的多工位并行测试，提高了测试效率，降低了设备成本，减少了高压干扰，降低了设备故障率，提高了生产效率的特点。

作为优选，所述积分电路包括放大器U1，电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R5和电阻R6，电容C2；