[发明专利]电离室测量体积调节装置有效
申请号: | 201510388184.8 | 申请日: | 2015-07-03 |
公开(公告)号: | CN104934285B | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
发明(设计)人: | 吴金杰;葛双;李论;姚馨博 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | H01J47/02 | 分类号: | H01J47/02;G01T1/185 |
代理公司: | 北京慧诚智道知识产权代理事务所(特殊普通合伙)11539 | 代理人: | 李楠 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电离室 测量 体积 调节 装置 | ||
1.一种电离室测量体积调节装置,其特征在于,所述装置包括:
滑动导向杆,平行电离室箱体的轴向方向设置于所述电离室箱体之内;
活塞,通过所述滑动导向杆的传动结构架设在所述滑动导向杆上;通过传动结构调整所述活塞在所述电离室箱体中的位置,改变电离室中收集区的有效测量体积;
位移调节器,与所述滑动导向杆相连接,通过所述位移调节器调节所述滑动导向杆的传动结构,从而带动所述活塞沿所述滑动导向杆移动;
位移检测器,与所述活塞相连接,检测所述活塞的移动位置,并向用户显示所述活塞的位置信息。
2.根据权利要求1所述的电离室测量体积调节装置,其特征在于,所述装置还包括:
限位装置,装设于所述电离室箱体内,当所述活塞与所述限位装置相接触时,产生限位信号,以通过所述限位信号提示用户所述活塞的移动位移已经到达最大/最小允许移动位置。
3.根据权利要求2所述的电离室测量体积调节装置,其特征在于,所述位移调节器具体为控制电机,通过所述控制电机产生的位移控制信号控制所述滑动导向杆的传动结构运动,从而带动活塞移动产生位移;
所述限位装置与所述控制电机电连接,当产生限位信号时,将所述限位信号发送给所述控制电机,使所述控制电机产生停止运动的控制信号,从而使活塞停止在已到达的最大/最小允许移动位置。
4.根据权利要求1所述的电离室测量体积调节装置,其特征在于,所述活塞为两个,沿所述收集区中心对称设置,通过所述位移调节器调整两个活塞对称运动;每个活塞具有两个端面,均垂直所述电离室箱体的轴向方向;
其中,第一端面的两侧与所述滑动导向杆相接,第二端面的两侧与电离室中高压极相接,形成收集区,从而通过调整所述活塞在所述电离室箱体中的位置,改变所述收集区的有效体积。
5.根据权利要求4所述的电离室测量体积调节装置,其特征在于,所述高压极的长度不小于所述两个活塞之间能拉开的最大距离。
6.根据权利要求4所述的电离室测量体积调节装置,其特征在于,所述活塞的两个端面的几何中心分别具有开孔,使所述X射线束经所述开孔进入/射出所述收集区。
7.根据权利要求4所述的电离室测量体积调节装置,其特征在于,所述电离室还包括沿所述收集区中心轴向设置的收集极;所述收集极与所述活塞相接位置为绝缘隔离。
8.根据权利要求1所述的电离室测量体积调节装置,其特征在于,所述位置检测装置具体为螺旋测微仪;
所述螺旋测微仪与所述传动结构相接,预先设定位移零点;所述螺旋测微仪实时显示所述活塞的位置信息。
9.根据权利要求1所述的电离室测量体积调节装置,其特征在于,所述位置检测装置具体为光学位移检测系统;
所述光学位移检测系统安装在所述活塞上,预先设定位移零点;所述光学位移检测系统实时测量所述活塞的位置,并生成位置信息,通过所述光学位移检测系统中的显示器显示所述位置信息。
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