[发明专利]膜转移框架有效
申请号: | 201510367965.9 | 申请日: | 2012-03-28 |
公开(公告)号: | CN104966692B | 公开(公告)日: | 2018-05-01 |
发明(设计)人: | J·S·弗兰克尔 | 申请(专利权)人: | 埃尔塔设备公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/683 |
代理公司: | 北京市隆安律师事务所11323 | 代理人: | 权鲜枝 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 转移 框架 | ||
1.一种用于在半导体装置制造过程中装配框架/膜总成的方法,包括:
具有末端执行器的机械臂拾起并将所述框架放置到规定的位置上;
所述机械臂拾起并将所述膜放置到所述框架上,其中所述框架上的微型倒刺刺穿并且固定到所述膜上,以形成所述框架/膜总成;
所述机械臂拾起并将所述框架/膜总成放进清洗器,
其中所述框架具有大于所述膜的中心开放区域的形状,且所述框架中在末端上带所述微型倒刺的多个指状物延伸到所述开放区域中,并且其中所述微型倒刺固定所述膜。
2.如权利要求1所述的方法,其中所述框架与酸、碱和氧化物化学相容。
3.如权利要求1所述的方法,其中所述框架能够承受高至150摄氏度的烘炉温度。
4.如权利要求1所述的方法,其中所述框架与按高至每分钟20个膜的速率移动框架和装载或卸载膜的自动化设备相容。
5.如权利要求1所述的方法,其中所述框架具有3.5mm或更小的剖面。
6.如权利要求1所述的方法,其中所述框架由PEEK或PVDF制成。
7.如权利要求1所述的方法,其中当携载所述膜时,所述框架被配置为装载到卡式盒中进行工具外传送,或在没有所述膜的情况下所述框架被配置为装载到堆叠盒中用于工具外传送。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造