[发明专利]检测装置及检测方法有效
申请号: | 201510010372.7 | 申请日: | 2015-01-09 |
公开(公告)号: | CN105816183B | 公开(公告)日: | 2017-12-05 |
发明(设计)人: | 浦大钧;吴俊熠;郭彦良 | 申请(专利权)人: | 宏达国际电子股份有限公司 |
主分类号: | A61B5/113 | 分类号: | A61B5/113;G01S13/02 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 王珊珊 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种检测装置,特别涉及一种雷达检测装置。
背景技术
传统雷达系统可用于检测一待测物,但若欲同时检测待测物上的不同区域,则此雷达系统内必须配置多组天线和多个收发器,造成设计成本上升。另外,电磁波的多重路径衰减(Multipath Fading)亦会影响雷达系统进行检测时的准确度。有鉴于此,有必要设计一种全新的检测装置,以克服传统雷达系统的缺点。
发明内容
在优选实施例中,本发明提供一种检测装置,适用于检测一待测物,包括:一第一天线元件;一第二天线元件;一第一收发器,具有一第一发射端口和一第一接收端口;一第二收发器,具有一第二发射端口和一第二接收端口;一第一循环器,耦接至该第一接收端口、该第二发射端口,以及该第一天线元件;以及一第二循环器,耦接至该第一发射端口、该第二接收端口,以及该第二天线元件;其中该第一收发器先通过该第二循环器和该第二天线元件朝向该待测物发射一第一电磁信号,之后该第一收发器再通过该第一天线元件和该第一循环器由该待测物处接收一第一反射信号;其中该第二收发器先通过该第一循环器和该第一天线元件朝向该待测物发射一第二电磁信号,之后该第二收发器再通过该第二天线元件和该第二循环器由该待测物处接收一第二反射信号。
在一些实施例中,该第一循环器和该第二循环器各自为一三端口元件,并用于执行一输入输出转换程序。在一些实施例中,该三端口元件具有一第一端口、一第二端口,以及一第三端口,其中当执行该输入输出转换程序时,输入该第一端口的信号将由该第二端口输出,输入该第二端口的信号将由该第三端口输出,而输入该第三端口的信号将由该第一端口输出。在一些实施例中,该第二天线元件朝向该待测物上的一第一区域发射该第一电磁信号,而该第一天线元件朝向该待测物上的一第二区域发射该第二电磁信号。在一些实施例中,该第二区域异于该第一区域。在一些实施例中,该第一天线元件和该第二天线元件各自为一非等向性天线。在一些实施例中,该第二天线元件的主波束方向指向该第一区域。在一些实施例中,该第二天线元件的零点方向指向该第二区域。在一些实施例中,该第一天线元件的主波束方向指向该第二区域。在一些实施例中,该第一天线元件的零点方向指向该第一区域。
在优选实施例中,本发明提供一种检测方法,包括下列步骤:提供一第一天线元件、一第二天线元件、一第一收发器、一第二收发器、一第一循环器,以及一第二循环器,其中该第一循环器耦接至该第一收发器的一第一接收端口、该第二收发器的一第二发射端口,以及该第一天线元件,而其中该第二循环器耦接至该第一收发器的一第一发射端口、该第二收发器的一第二接收端口,以及该第二天线元件;使用该第一收发器,通过该第二循环器和该第二天线元件朝向该待测物发射一第一电磁信号;使用该第一收发器,通过该第一天线元件和该第一循环器由该待测物处接收一第一反射信号;使用该第二收发器,通过该第一循环器和该第一天线元件朝向该待测物发射一第二电磁信号;以及使用该第二收发器,通过该第二天线元件和该第二循环器由该待测物处接收一第二反射信号。
附图说明
图1是显示根据本发明一实施例所述的检测装置的示意图;
图2是显示根据本发明一实施例所述的第一循环器或第二循环器的示意图;
图3是显示根据本发明一实施例所述的天线场型和待测物的关系的示意图;
图4是显示根据本发明一实施例所述的检测方法的流程图。
【符号说明】
100~检测装置;110~第一天线元件;
120~第二天线元件;130~第一收发器;
140~第二收发器;150~第一循环器;
160~第二循环器;170~待测物;
171~第一区域;172~第二区域;
310~第一天线辐射场型;320~第二天线辐射场型;
ST1~第一电磁信号;SR1~第一反射信号;
ST2~第二电磁信号;SR2~第二反射信号;
TX1~第一发射端口;RX1~第一接收端口;
TX2~第二发射端口;RX2~第二接收端口;
MG1~第一主波束;MG2~第二主波束;
SG1~第一次波束;SG2~第二次波束;
NG1~第一零点;NG2~第二零点;
P1~第一端口; P2~第二端口;
P3~第三端口; S1、S2、S3~信号。
具体实施方式
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