[发明专利]一种航天器介质材料静电放电试验装置及方法

权利要求书

1.一种航天器介质材料静电放电试验装置，其特征在于：它由真空室(1)、电子加速器(2)、电子枪(3)、真空抽气系统(4)、绝缘样品台(5)、三维运动机构(7)、示波器(8)、采样电阻(9)、非接触式电位计(10)组成；电子加速器(2)和电子枪(3)所产生电子能量和束流密度均可调；

真空抽气系统(4)与真空室(1)连通，示波器(8)、采样电阻(9)以及非接触式电位计(10)除探头的部分置于真空室(1)外部；介质材料样品(6)以介质在上、背金属电极在下的状态放置在真空室(1)内部的绝缘样品台(5)上，介质材料样品(6)的背金属电极通过真空靶室(1)外的50Ω采样电阻(9)接地，在背金属电极和接地电阻之间接入示波器(8)，非接触式电位计(10)的探头安装在三维运动机构(7)上，电子加速器(2)和电子枪(3)位于绝缘样品台(5)上方。

2.一种使用权利要求1的航天器介质材料静电放电试验装置的测试方法，其特征在于包括下列步骤：

步骤1、将介质材料样品(6)放置于真空室(1)中的绝缘样品台(5)上，关闭真空室(1)；

步骤2、开启真空抽气系统(4)给真空室(1)抽真空；

步骤3、开启电子加速器(2)模拟空间环境的高能电子；

步骤4、开启电子枪(3)模拟空间环境的低能电子；

步骤5、利用三维运动机构(7)将非接触式电位计(10)的探头移动到介质材料样品(6)的上方测量表面电位，利用示波器(8)监测介质材料样品的静电放电脉冲。

3.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于：所述步骤2中真空环境真空度要求优于5.0×10^－4Pa。

4.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于：所述步骤3中电子加速器所提供高能电子的能量在0.8MeV～2.3MeV范围内可调，束流密度在0～100pA/cm²范围内可调。

5.根据权利要求2所述的测试方法，其特征在于：所述步骤4中电子枪的能量在0-100keV范围内可调，束流密度在0-1nA/cm²内可调。

6.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于：所述步骤5中采用Trek341A非接触式电位计监测样品表面电位。