[实用新型]一种天线相位的测试系统有效

专利信息
申请号: 201320876310.0 申请日: 2013-12-27
公开(公告)号: CN203705546U 公开(公告)日: 2014-07-09
发明(设计)人: 李晓刚;方志国;陆建栋 申请(专利权)人: 苏州市大富通信技术有限公司
主分类号: G01R25/00 分类号: G01R25/00
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 何青瓦
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 天线 相位 测试 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及天线技术领域,特别是涉及一种天线相位的测试系统。

背景技术

在移动通信行业中,基站辐射天线在投入使用之前,需要进行各种指标测试,例如驻波、相位、隔离等指标。

现有技术中天线相位的测试装置需要通过人工的操作、控制以及观察来测试天线的相位,导致测试效率低。

实用新型内容

本实用新型实施例提供了一种天线相位的测试系统,以解决测试效率低的问题。

为了解决上述问题,本实用新型提供一种天线相位的测试系统,其包括:天线承载机构,用于承载待被测试的天线;网络分析仪,与天线连接,用于向天线发送第一信号,天线根据第一信号发射第二信号;探头,用于接收天线发射的第二信号;探头承载机构,用于承载探头;处理器,分别与天线承载机构和探头承载机构连接,用于将天线划分为多个测试区域,并控制探头承载机构相对于天线承载机构运动,以使探头获取多个测试区域的第二信号;其中,网络分析仪还与探头连接,并从探头获取第二信号,网络分析仪根据第一信号和第二信号获取多个测试区域的相位。

通过上述方案,本实用新型的有益效果是:本实用新型所揭示的测试系统通过处理器控制探头承载机构相对于天线承载机构运动,以使探头获取多个测试区域的第二信号,网络分析仪根据第一信号和第二信号获取多个测试区域的相位,能够通过处理器控制探头测试天线的相位,提高了测试天线的效率。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案,下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。其中:

图1是本实用新型第一实施例的天线相位的测试系统的结构图;

图2是图1中天线的多个测试区域的示意图;

图3是图1中探头承载机构的结构图;

图4是本实用新型第二实施例的天线相位的测试系统的结构图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性的劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。

请参见图1,图1是本实用新型第一实施例的天线相位的测试系统的结构图。本实施例所揭示的测试系统10包括:天线承载机构101、网络分析仪102、探头103、探头承载结构104、处理器105、吸波墙106、天线107以及支架108。

在本实施例中,天线承载机构101用于承载待被测试的天线107。网络分析仪102与天线107连接,网络分析仪102用于向天线107发送第一信号,天线107根据第一信号发射第二信号。探头103设置在探头承载结构104上,用于接收天线107发射的第二信号。

处理器105与天线承载机构101或探头承载结构104连接,用于控制探头承载结构104相对于天线承载机构101运动。其中,处理器105还将天线107划分成多个测试区域109,如图2所示。处理器105控制探头承载结构104相对于天线承载机构101运动,即探头103相对于天线107运动,进而探头103测试天线1107的多个测试区域109,以获取多个测试区域109的第二信号。

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