[实用新型]一种产线光谱测量系统

说明书

【技术领域】

本实用新型属于光辐射测试领域，具体涉及一种适用于生产线的光谱测量系统。

【背景技术】

图像光谱测量是评价液晶、LCD、LED等新型显示设备质量的重要手段，通过图像光谱测量可获得多个显示屏技术指标，如亮度均匀性、最大亮度、对比度等。

然而，在实验室测量中，图像光谱已经可以达到较高的测量准确度，但测试速度较慢，目前国内外均未见能够适用于生产线的图像光谱测量系统，现有的实验室型图像光谱测量装置无法满足生产线的测量要求，造成LCD等产品仅能通过抽检方式评价其品质，不仅测试效率低，且无法实现出厂产品的100%全检，不合格产品流向市场的几率大增。

【实用新型内容】

针对上述现有技术的不足，本实用新型旨在提供一种可快速、准确获取生产线上被测目标图像光谱的测量系统，具有测量速度快、准确度高、操作方便等特点。

本实用新型是通过以下技术方案实现的。一种产线光谱测量系统，其特征在于，包括控制中心和光谱测量装置，所述的被测目标可移动地设置在生产线上，所述的控制中心与光谱测量装置、被测目标均电连接，控制中心控制光谱测量装置的测量时序与生产线上被测目标的移动时序相同步，光谱测量装置接收来自整个被测目标的光线。

控制中心控制被测目标按一定的移动时序沿生产线移动，待被测目标移动至光谱测量装置的入光口处；控制中心获取被测目标的位置信息并同步触发光谱测量装置，光谱测量装置接收并测量来自被测目标的光线，实现被测目标图像光谱的测量。需要注意的是，被测目标的测量区域可灵活选择，一次测量即可测量被测目标某一个或者多个特征点发出的光，或者某一区域发出的光，或者整个被测目标发出的光的图像光谱，可根据测试需要，一次测量即可实现多种测量目的，功能强大且测量速度快，适用于各种产线的测试要求。

本实用新型还可以通过以下技术方案进一步完善和优化：

作为优选，所述的光谱测量装置包括一个以上并列设置的入光口和一个以上阵列光谱仪，且各个入光口均与单个阵列光谱仪相连接；被测目标不同发光区域出射的光线直接或者间接入射到同一入光口或者不同入光口中，入光口将光线导入其对应的阵列光谱仪中。对于仅具备一个入光口的光谱测量装置，根据具体的技术方案，可实现不同的测量功能，例如，可通过调节距离、方位等手段，使得入光口与被测目标的对准区域不同，被测目标部分区域（如显示屏上某点）发出的光直接入射至阵列光谱仪中，实现该区域光谱的测量；或者可利用该入光口与成像装置相配合，被测目标发出的光经成像装置会聚后、间接入射至阵列光谱仪中，阵列光谱仪实现被测目标的图像光谱的测量。此外，对于具有多个入光口的光谱测量装置，通过设置多个入光口来接收被测目标不同发光区域发出的光线，实现被测目标发光区域各点光谱特性的测量分析，每个入光口均与单个阵列光谱仪相连接，即不同的阵列光谱仪测量被测目标不同发光区域发出的光谱，将多个阵列光谱仪的测量结果通过上位机等方式整合，即可实现整个测量对象的图像光谱的测量。该技术方案通过多个阵列光谱仪实现被测目标不同发光区域光谱的测量，不仅测量速度快，一次测量即可得到整个被测目标的图像光谱；而且由于各个区域的光线由不同阵列光谱仪分别测量，有效提高光谱分辨率和测量准确度。

光谱测量装置的入光口可以光纤或者狭缝，对于单个入光口，光纤和狭缝都能满足测量要求；对于多个入光口的情况，优选光纤。多根光线可编排成任意指定形状，如圆形、正方向、长方形等，以将被测目标不同形状区域内的光线导入到阵列光谱仪中测量，实现多元化测量目的。

作为优选，一个以上成像装置，所述的成像装置将被测目标发出的光线成像至光谱测量装置的入光口处。成像装置将被测光线会聚，并成像到光谱测量装置的入光口处，经光谱测量装置分析测量后，获得图像光谱。根据光谱测量装置入光口的数目，成像装置的数目也可灵活改变。单个入光口，仅需一个成像装置即可；多个入光口，可在每个入光口前均设置一个成像装置，实现被测目标不同发光区域图像光谱的同时测量，测量准确度高且测量速度快。

作为优选，包括一个以上遮光装置，所述的遮光装置设置在被测目标和光谱测量装置入光口的光路之间。利用光阑、遮光筒等遮光装置，避免环境杂散光或者各个入光口之间的光线相互干扰，从而减小杂散光，提高测量准确度。