[实用新型]一种基于PXI总线的通用开放式集成测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及PXI测试领域，尤其涉及一种基于PXI总线的通用开放式集成测试装置。

背景技术

工业领域，电子设备在变得自动化、智能化的同时，设计也变得更加复杂，由于多层高密度PCB板以及BGA封装器件的大量使用，使得对电路板的测试变得极为困难，然而为了应对用户越来越苛刻的质量要求以及设备现场使用需要，却又不得不加强测试能力的建设。尽管国外有专用的测试设备，但是价格极其昂贵，使得产品综合成本居高不下。目前国内有用户应用虚拟测试仪器，但是软件开发应用较为繁琐复杂。

发明内容

本实用新型的所要解决的技术问题在于提供一种成本较低、并且具有通用性、开放性和模块化的基于PXI总线的通用开放式集成测试装置。

本实用新型采用以下技术方案解决上述技术问题的：一种基于PXI总线的通用开放式集成测试装置，包括集成测试机箱（1）、适配板接口（2）、BST边界扫描模块（5）、ATEasy模块（6）、热红外分析模块（7）、PCT模块（8）、PCT SRIO模块（9）和LASAR仿真模块（10），所述的集成测试机箱（1）中设有2个PXI机箱（3），每个PXI机箱（3）内均设有12个插槽（4），12个插槽（4）分别连接适配板接口（2）、BST边界扫描模块（5）、ATEasy模块（6）、热红外分析模块（7）、PCT模块（8）、PCT SRIO模块（9）和LASAR仿真模块（10）。

优化的，所述的集成测试机箱（1）上还设有3个附属设备（11）：一个触摸液晶屏（12）、一个显示器（13）和一个热红外成像仪（14），其中触摸液晶屏（12）和显示器（13）之间通过VGA连接，热红外成像仪（14）和热红外分析模块（7）之间通过高速总线连接。

具体的，所述的BST边界扫描模块（5）包括边扫适配器（51）、边扫IO模块（52）和边扫路由模块（53），所述的边扫适配器（51）、边扫IO模块（52）和边扫路由模块（53）之间通过USB总线连接。

具体的，所述的ATEasy模块（6）包括ATEasy适配器（61）、IO板卡（62）、万用表（63）、AD/DA板卡（64）和扩展板（65），所述的ATEasy适配器（61）、IO板卡（62）、万用表（63）、AD/DA板卡（64）和扩展板（65）之间通过PXI总线连接。

具体的，所述的PCT模块（8）包括PCT测试板卡（81）和PCT控制器（82），所述的PCT测试板卡（81）和PCT控制器（82）之间通过PXI总线连接。

具体的，所述的PCT SRIO模块（9）包括一个FPGA SRIO板卡（91），所述的FPGA SRIO板卡（91）为PXI接口。

具体的，所述的LASAR仿真模块（10）包括一个LASAR仿真IO板卡（101），所述的LASAR仿真IO板卡（101）为PXI接口。

具体的，所述适配板接口（2）、BST边界扫描模块（5）、ATEasy模块（6）、热红外分析模块（7）、PCT模块（8）、PCT SRIO模块（9）和LASAR仿真模块（10）与所述PXI机箱（3）通过PXI接口相连接。

本实用新型的优点在于：

1)通用性、开放性和模块化。本实用新型采用通用开放式集成测试系统结构，将数字、模拟测试系统集成在高性能PXI测试总线上。系统具有2个PXI机箱，每个机箱都有12个插槽，且混合3U和6U规格，可满足各种测试需求，具备良好的扩展和升级能力。同时具有独特的适配板接口设计，只需更换很少的适配板便可测试各种接口板卡，如：CPCI、PXI、PCI、PCIe。仪器模块可根据用户需要进行组合、互换，具有模块化、系列化、通用化和易扩展的特点。

2)具备IEEE1149/IEEE1145标准接口以及功能测试能力。系统数字测试模块具备IEEE1149/IEEE1145文件接口，可将利用ScanWorks边界扫描工具和LASAR电路仿真软件以及LASAR后处理软件开发的电路板测试文件，直接导入系统并用来测试和诊断。具备边界扫描功能，可实现板级互联测试，可以测试电路板物理连接特性，能准确的定位短路、开路等故障。基于单元电路的功能测试，可测试并确认电路板功能的正确性，能准确定位到元器件故障。本系统可节约TPS开发成本，降低TPS开发难度，缩短TPS开发时间。并解决了对已开发的TPS再利用的问题。