[实用新型]一种基于PXI总线的通用开放式集成测试装置有效
| 申请号： | 201320685025.0 | 申请日： | 2013-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN203519783U | 公开（公告）日： | 2014-04-02 |
| 发明（设计）人： | 王凤驰;李正东;李粉兵;谢庭波;刘军 | 申请（专利权）人： | 中国电子科技集团公司第三十八研究所 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01J5/10 |
| 代理公司： | 安徽汇朴律师事务所 34116 | 代理人： | 丁瑞瑞 |
| 地址： | 230001*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 基于 pxi 总线 通用 开放式 集成 测试 装置 | ||
1.一种基于PXI总线的通用开放式集成测试装置，其特征在于：包括集成测试机箱（1）、适配板接口（2）、BST边界扫描模块（5）、ATEasy模块（6）、热红外分析模块（7）、PCT模块（8）、PCT SRIO模块（9）和LASAR仿真模块（10），所述的集成测试机箱（1）中设有2个PXI机箱（3），每个PXI机箱（3）内均设有12个插槽（4），12个插槽（4）分别连接适配板接口（2）、BST边界扫描模块（5）、ATEasy模块（6）、热红外分析模块（7）、PCT模块（8）、PCT SRIO模块（9）和LASAR仿真模块（10）。
2.根据权利要求1所述的基于PXI总线的通用开放式集成测试装置，其特征在于：所述的集成测试机箱（1）上还设有3个附属设备（11）：一个触摸液晶屏（12）、一个显示器（13）和一个热红外成像仪（14），其中触摸液晶屏（12）和显示器（13）之间通过VGA连接，热红外成像仪（14）和热红外分析模块（7）之间通过高速总线连接。
3.根据权利要求1所述的基于PXI总线的通用开放式集成测试装置，其特征在于：所述的BST边界扫描模块（5）包括边扫适配器（51）、边扫IO模块（52）和边扫路由模块（53），所述的边扫适配器（51）、边扫IO模块（52）和边扫路由模块（53）之间通过USB总线连接。
4.根据权利要求1所述的基于PXI总线的通用开放式集成测试装置，其特征在于：所述的ATEasy模块（6）包括ATEasy适配器（61）、IO板卡（62）、万用表（63）、AD/DA板卡（64）和扩展板（65），所述的ATEasy适配器（61）、IO板卡（62）、万用表（63）、AD/DA板卡（64）和扩展板（65）之间通过PXI总线连接。
5.根据权利要求1所述的基于PXI总线的通用开放式集成测试装置，其特征在于：所述的PCT模块（8）包括PCT测试板卡（81）和PCT控制器（82），所述的PCT测试板卡（81）和PCT控制器（82）之间通过PXI总线连接。
6.根据权利要求1所述的基于PXI总线的通用开放式集成测试装置，其特征在于：所述的PCT SRIO模块（9）包括一个FPGA SRIO板卡（91），所述的FPGA SRIO板卡（91）为PXI接口。
7.根据权利要求1所述的基于PXI总线的通用开放式集成测试装置，其特征在于：所述的LASAR仿真模块（10）包括一个LASAR仿真IO板卡（101），所述的LASAR仿真IO板卡（101）为PXI接口。
8.根据权利要求1所述的基于PXI总线的通用开放式集成测试装置，其特征在于：所述适配板接口（2）、BST边界扫描模块（5）、ATEasy模块（6）、热红外分析模块（7）、PCT模块（8）、PCT SRIO模块（9）和LASAR仿真模块（10）与所述PXI机箱（3）通过PXI接口相连接。
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