[实用新型]一种基于C8051F320单片机的简易晶体管特性测量仪

说明书

技术领域

 本实用新型涉及一种晶体管特性测量仪，尤其是涉及一种基于C8051F320单片机的简易晶体管特性测量仪。

背景技术

目前，国内高校电子信息类专业涉及很多实验，包括电子实验﹑系统集成实验﹑计算机控制实验等。这些实验通常需要采用一些传统的实验仪器仪表设备，如晶体管特性测试仪等专用实验设备。但是由于传统的晶体管特性测仪器不但价格昂贵，且体积较大﹑占空间多、携带不便。所以传统的晶体管特性测试仪器只在实验室里设有。这限制了学生必须在实验室里才能进行实验。然而，实验室对学生的开放时间是有限的，这使得学生在课外时间很难进行科学实验，限制了学生实践能力和创新能力的提高。此外传统的晶体管特性测试仪器还存在各种仪器间相互连接十分麻烦的问题。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种便于携带，操作方便的基于单片机的简易的晶体管特性测量仪。

本实用新型解决上述技术问题所采用的技术方案为：一种基于C8051F320单片机的简易晶体管特性测量仪，包括基极输入电流源、集电极上拉电压源、集电极电流测量模块、集电极-发射极电压测量模块、晶体管测试台与LCD液晶显示电路，所述的基极输入电流源包括型号为C8051F320的单片机、第一电压调理模块与电压转换电流模块，所述的集电极上拉电压源包括所述的单片机与第二电压调理模块，所述的集电极电流测量模块包括第三电压调理模块与所述的单片机，所述的集电极-发射极电压测量模块包括第四电压调理模块与所述的单片机；

所述的单片机分别与第一电压调理模块、第二电压调理模块连接，所述的第一电压调理模块通过电压转换电流模块与晶体管测试台连接，所述的第二电压调理模块连接到晶体管测试台，所述的晶体管测试台通过第三电压调理模块与单片机连接，晶体管测试台通过第四电压调理模块与所述的单片机连接，所述的单片机连接与LCD液晶显示电路连接。

所述的第一电压调理模块包括D/A转换电路与第一电压跟随电路，所述的第二电压调理模块包括所述的D/A转换电路、第二电压跟随电路与信号放大电路，所述的第三电压调理模块包括加减法运算电路、第一信号衰减电路、第一信号反向电路与A/D转换电路，所述的第四电压调理模块包括第二信号衰减电路、第二信号反向电路与所述的A/D转换电路；

所述的单片机与D/A转换电路连接，所述的D/A转换电路分别与第一电压跟随电路的输入端、第二电压跟随电路的输入端连接，所述的第一电压跟随电路的输出端与电压转换电流模块的输入端连接，所述的第二电压跟随电路的输出端与信号放大电路的输入端连接，信号放大电路的输出端与晶体管测试台连接，所述的加减法运算电路的输入端与晶体管测试台连接，加减法运算电路的输出端依次通过第一信号衰减电路、第一信号反向电路连接到所述的单片机的第一采样输入口，所述的第二信号衰减电路的输入端与晶体管测试台连接，第二信号衰减电路的输出端通过第二信号反向电路连接到所述的单片机的第二采样输入口。

所述的D/A转换电路包括型号为TLC7528的数字-模拟转换器及外围电路，所述的数字-模拟转换器与单片机连接，所述的数字-模拟转换器的第六管脚与单片机的第二十六管脚相连，数字-模拟转换器的十第六管脚与单片机的第二十五管脚相连；

所述的A/D转换电路包括单片机及外围电路，所述的单片机的第九管脚与十针JTAG接口的第七管脚连接，单片机的第十管脚与十针JTAG接口的第四管脚连接，所述的单片机的第九管脚与第七电阻的一端相连，第七电阻的另一端通过按键开关接地，第七电阻的另一端通过第五电阻连接到单片机的VDD接口，单片机的第五管脚与USB接口的第二管脚连接，单片机的第四管脚与USB接口的第三管脚连接。由数字-模拟转换器及外围电路完成信号的D/A转换，由单片机及外围电路完成信号的A/D转换。