[实用新型]基于GTEM室的超高频传感器灵敏度测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，尤其是涉及一种基于GTEM室的超高频传感器灵敏度测试装置。

背景技术

超高频局放测试仪器一般可以分为手持式超高频局放测试仪、便携式超高频局放测试仪和厘米级定位超高频局放测试系统。手持式超高频局放测试仪一般带有1～2个超高频信号处理通道，采用嵌入式CPU芯片，仪器以显示测试的超高频信号幅值为主，一般都带有时域图谱或其他相关图谱。便携式超高频局放测试仪，是指带2～4个超高频通道，采用笔记本电脑控制前端信号调理和数据采集装置，并对数据进行分析和诊断的局放测试设备。

厘米级定位超高频局放测试系统一般指带有高采样率的数字存储示波器、可以对超高频局放信号进行灵活分析并进行精确定位的局放测试系统。系统一般由超高频传感器、信号调理装置和数字存储示波器组成。为了保证测试的准确性，超高频传感器的灵敏度尤为重要，但是目前缺少能够准确测试超高频传感器灵敏度的装置。

实用新型内容

本实用新型的目的就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提供一种基于GTEM室的超高频传感器灵敏度测试装置。

本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现：

一种基于GTEM室的超高频传感器灵敏度测试装置，包括GTEM室、信号发生器以及频谱分析仪，所述的信号发生器与GTEM室的信号发射端连接，待测试的超高频传感器设置在GTEM室的测试区域内，并与频谱分析仪连接。

所述的GTEM室的测试区域的轴截面呈等腰三角形结构，所述的信号发射端位于等腰三角形结构的顶点，等腰三角形结构的底边处设置吸波材料层。

所述的信号发生器为输出频率在300MHz～1500MHz之间的信号发生器。

与现有技术相比，本实用新型利用GTEM室的结构，将超高频传感器设置于GTEM室的测试区域内，获取传感器的电压信号，与传感器位置的场强值进行比较，检测器灵敏度，并且可以通过多组数据来进行平均，进一步提高测试的精度。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本实用新型进行详细说明。

实施例

如图1所示，一种基于GTEM室的超高频传感器灵敏度测试装置，包括GTEM室1、信号发生器2以及频谱分析仪3，信号发生器2与GTEM室1的信号发射端11连接，输出频率在300MHz～1500MHz之间的测试信号，待测试的超高频传感器4设置在GTEM室的测试区域内，该测试区域的轴截面呈等腰三角形结构，所述的信号发射端11位于等腰三角形结构的顶点，等腰三角形结构的底边处设置吸波材料层12。频谱分析仪3连接超高频传感器4的输出端，获取超高频传感器4的电压信号，电压信号与超高频传感器4位置处的场强之比，即为灵敏度的测试值。